11 Anexo
Fase gaseo-
Temperatura
sa
Hidrógeno
20 °C/68 °F
200 °C/392 °F -0,02 %
400 °C/752 °F -0,02 %
Vapor de agua
100 °C/212 °F 0,26 %
(Vapor satu-
180 °C/356 °F 0,17 %
rado)
264 °C/507 °F 0,12 %
366 °C/691 °F 0,07 %
Características de medición y datos de rendimiento
Frecuencia de medición
Tiempo del ciclo de medición
Ʋ Electrónica estándar apróx.
Ʋ Electrónica con sensibilidad elevada
apróx.
Tiempo de respuesta gradual
Potencia emitida de AF (Dependiente de la parametrización)
Ʋ Densidad de potencia de emisión
media espectral
Ʋ Densidad de potencia de emisión
espectral máxima
Ʋ Densidad de potencia máxima a 1 m
de distancia
Condiciones ambientales
Temperatura ambiente, de almacenaje y
de transporte
Condiciones de proceso
Para las condiciones de proceso hay que considerar adicionalmente las especificaciones en la
placa de tipos. Siempre se aplica el valor menor.
Junta
FKM (SHS FPM 70C3
GLT)
FFKM (Kalrez 6375)
FFKM (Kalrez 2035)
FFKM (Kalrez 6230)
Periodo de tiempo después de la variación repentina de la distancia de medición 0,5 m como máx. en aplica-
5)
ciones de líquidos hasta que la señal de salida haya alcanzado por primera vez el 90 % de su valor de régimen
(IEC 61298-2).
EIRP: Equivalent Isotropic Radiated Power.
6)
60
1 bar
10 bar
(14.5 psig)
(145 psig)
-0,01 %
0,10 %
0,05 %
0,03 %
-
2,1 %
1,44 %
1,01 %
Banda K (tecnología de 26 GHz)
450 ms
700 ms
≤ 3 s
5)
-14 dBm/MHz EIRP
+43 dBm/50 MHz EIRP
< 1 µW/cm²
-40 ... +80 °C (-40 ... +176 °F)
Cono adaptador de an-
tena
PFFE
PFFE
PFFE
PFFE
Presión
50 bar
(725 psig)
0,61 %
0,37 %
0,25 %
-
-
9,2 %
5,7 %
6)
Temperatura de proceso (medida en la conexión
al proceso)
-40 ... +200 °C (-40 ... +392 °F)
-20 ... +200 °C (-4 ... +392 °F)
-15 ... +200 °C (5 ... +392 °F)
-15 ... +200 °C (5 ... +392 °F)
VEGAPULS 62 • De cuatro hilos 4 ... 20 mA/HART
100 bar
200 bar
(1450 psig)
(2900 psig)
1,2 %
2,5 %
0,76 %
1,6 %
0,53 %
1,1 %
-
-
-
-
-
-
13,2 %
76 %