SICK deTem2 Core Instrucciones De Uso página 57

8014311/14Q7/2020-04-27 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
6) Para obtener información detallada sobre el diseño exacto de su máquina, póngase en contacto con su
representante de SICK.
7) Dirección de movimiento y eje de la barra de comprobación vertical con respecto al haz de luz.
Datos técnicos del emisor
Tabla 10: Datos técnicos del emisor
Longitud de onda del emisor
Ángulo de apertura efectivo (EAA)
Consumo de corriente
Consumo de potencia
1) Distancia entre el emisor y el receptor D ≥ 3 m.
Datos técnicos del receptor
Tabla 11: Datos técnicos del receptor
Consumo de corriente
Consumo de potencia
Salidas conmutadas seguras (OSSD)
Tipo de salida
Duración del estado OFF
Retardo de conexión
Tensión de salida con estado ON
(HIGH) 2)
Tensión de salida con estado OFF
(LOW)
2) 3)
Intensidad de salida - estado ON
(HIGH)
Intensidad de fuga de las salidas
conmutadas seguras (OSSD)
Capacidad de carga
Inductancia de carga
Datos de pulso de test
4)
Duración de impulso de prueba
Velocidad de pulso de test
Resistencia de línea admisible
Entre el dispositivo y la carga
Cable de alimentación
6)
1) Válido para las tensiones dentro de un rango de −30 V a +30 V.
2) Según IEC 61131-2.
3) Los valores indicados corresponden a la tensión de conmutación suministrada por el dispositivo. Si se
suministran tensiones externas más altas, podría sobrepasarse el valor máximo de 2,0 V.
4) Cuando están activas, las salidas se comprueban cíclicamente (breve conmutación LOW). Cuando selec‐
cione los elementos de control a los que se conecta este equipo, asegúrese de que los parámetros indi‐
cados arriba no provoquen una desconexión.
5) Para asegurarse de que los cortocircuitos entre salidas se detecten con total seguridad, la resistencia de
los conductores hacia los elementos de control conectados a continuación no debe superar este valor.
(Observe, además, la norma IEC 60204-1.)
6) El cable de alimentación no debe utilizarse para conectar otras cargas, con excepción del emisor.
Mínimo
Próximo al Infrarrojo (NIR), invisible
1)
Mínimo
2 semiconductores PNP, a prueba de cortocircuitos
con supervisión de circuitos cruzados
100 ms
(V – 2,25 V) ... V
S S
0 V ... 2,0 V
3 s
–1
5)
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | deTem2 Core
DATOS TÉCNICOS
Típico Máximo
5°
50 mA
1,44 W
Típico Máximo
150 mA
4,32 W
3 × tiempo de
respuesta
300 mA respecti‐
vamente
2 mA respectiva‐
mente
2,2 µF
2,2 H
150 µs 300 µs
5 s 10 s
–1 –1
2,5 Ω
1 Ω
12
1) ,
57