SICK microScan3 Instrucciones De Uso página 159

Escáner láser de seguridad
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8020203/15ZT/2019-11-14 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Por cada interrupción del campo en la que una salida de seguridad conmuta al estado
OFF, el escáner láser de seguridad almacena los datos de 10 exploraciones. Cuando la
memoria interna del escáner láser de seguridad está llena, para guardar una nueva
interrupción de campo se sobrescriben los datos de exploración de la interrupción de
campo más antigua. La posición y el tiempo de la interrupción del campo se mantie‐
nen.
La memoria interna del escáner láser de seguridad se vacía al reiniciar.
Fuente de datos
Leer del dispositivo: Solo está disponible si hay conectado un dispositivo. Se leen
los datos almacenados en el dispositivo.
Cargar archivo: Puede abrir un archivo en el que se almacenen eventos que se
leyeron en el dispositivo en un momento anterior.
Guardar datos: Puede guardar en un archivo los eventos leídos en un dispositivo,
para su análisis posterior.
Eventos
La vista Eventos muestra una visión general gráfica de las interrupciones de los campos
de protección, los campos de contorno de referencia y campos de reconocimiento de
contorno, que han causado que una salida de seguridad conmute a OFF.
Navegación: Puede seleccionar el evento cuyos datos de medición se muestran en
la parte derecha.
Visión general de los eventos: La posición de cada interrupción de campo grabada
se muestra en relación con el escáner láser de seguridad. Cuando mantiene el
puntero del ratón sobre una posición, se muestra la evaluación múltiple ajustada.
Cuando hace clic en una posición, en la parte derecha se muestran los datos de
medición correspondientes.
Datos de medición del evento seleccionado: Se muestran los datos de medición
de la interrupción de campo seleccionada. Cuando hay almacenadas varias explo‐
raciones para la interrupción de campo seleccionada, puede visualizar sucesiva‐
mente las exploraciones individuales haciendo clic en los símbolos junto a Explo‐
rar.
Tabla de eventos
La tabla de eventos muestra informaciones detalladas sobre los eventos en los que
una salida de seguridad ha conmutado al estado OFF.
En base a los datos de medición se asigna a cada evento una causa probable:
Objeto: Probablemente, el campo de protección se interrumpió por medio de un
objeto.
Contorno: Se ha interrumpido un campo de contorno de referencia o un campo de
reconocimiento de contorno.
Suciedad: La desconexión se activó debido a la suciedad de la cubierta de la
óptica en la zona del campo de protección.
Deslumbramiento: La desconexión se ha activado por medio de una fuente de luz
externa en el plano de exploración de la zona del campo de protección, p. ej. el
sol, un faro halógeno, una fuente de luz infrarroja, un estroboscopio.
Cerca del borde del campo o partículas en el campo: Probablemente se ha inte‐
rrumpido el campo de protección en el borde o debido a partículas.
SOLUCIÓN DE FALLOS
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 – EtherNet/IP™
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