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M a n d o s d e C o n t r o l
red, debe desconectarse incluso el cable de red. Así se
evita una conexión entre el osciloscopio y el componente a
verificar, que podría producirse a través del conductor de
tierra. La comprobación llevaría a falsos resultados.
¡Sólo se deben comprobar condensadores en estado
descargado!
El principio de test es muy sencillo. Un generador senoidal integrado
en el osciloscopio HM400 proporciona una tensión senoidal con una
frecuencia de 50 Hz (±10%). Esta alimenta un circuito en serie, com-
puesto por el componente a comprobar y una resistencia incorporada.
La tensión senoidal se utiliza para la deflexión horizontal en pantalla y
la caída de tensión en la resistencia se utiliza para la deflexión vertical.
Si el objeto bajo medida tiene un valor real (p.ej. una resistencia), las
dos tensiones tienen la misma fase. En la pantalla aparece una línea
más o menos inclinada. Si el componente a comprobar presenta un
cortocircuito, la raya será vertical. En el caso de interrupción o cuando
no hay objeto de medida, aparece una línea horizontal. La inclinación de
la línea es un indicador del valor de la resistencia. Con esto se puede
comprobar el estado de resistencias entre 20 Ω y 4,7 kΩ.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, transformadores)
provocan una diferencia de fase entre la corriente y la tensión, así
también entre las tensiones de deflexión. De esto resultan imágenes
elípticas. La inclinación y abertura de la elipse son significativas para
la impedancia con frecuencia de red. Los condensadores se presentan
en un margen de 0,1 µF – 1000 µF.
–
Una elipse con el eje principal horizontal significa alta impe-
dancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
–
Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
–
Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida rela-
tivamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles o esquinas en la curva característica,
muestran el paso de la fase conductora a la no conductora. En la me-
dida en que la tensión lo permite, se presenta la característica de paso
o rechazo (p.ej. de un diodo Zener bajo 10 V). Siempre se trata de una
comprobación en dos polos. Por eso, p.ej. no es posible comprobar la
amplificación de un transistor, pero sí comprobar las diferentes uniones
B-C, B-E, C-E. Dado que la tensión de test es muy baja, se pueden
comprobar las diferentes zonas de casi todos los semiconductores, sin
dañarlos. Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptura de
>
semiconductores para tensión
9 V. Esto generalmente no significa ser
CH I: 500 mV
una desventaja, ya que normalmente, en el caso de fallos en el circuito,
éstos producen diferencias notables, que dan claras indicaciones sobre
el componente defectuoso. Se obtienen resultados bastante precisos,
si se realizan comparaciones con componentes del mismo tipo y valor
A N A L O G S C O P E
y de los que se conoce ciertamente su buen estado de funcionamiento.
Esto es aplicable, especialmente al realizar comparaciones con semi-
conductores. Por ejemplo permite reconocer rápidamente el cátodo
de un diodo normal o Zener, cuya impresión es ilegible, diferenciar un
transistor PNP del tipo complementario NPN o averiguar las conexiones
B-C-E de un transistor desconocido.
Obsérvese que, la inversión de los polos de conexión de un semicon-
ductor con el borne de masa, provoca un giro de la imagen de test en
el osciloscopio de 180°, con eje sobre el centro de la retícula. Aún más
importante es el resultado bueno-malo de componentes con inter-
rupción o cortocircuito. Este caso es el más común, en las tareas de
un servicio técnico.
Se recomienda encarecidamente, actuar con la precau-
ción habitual en lo que se refiere a precauciones para la
electricidad estática o de fricción en relación con elemen-
tos sueltos MOS. Pueden aparecer ruidos de zumbido en
la pantalla, si el contacto Base o Gate de un transistor
está desconectado, es decir, que no se está comprobando
(sensibilidad de la mano).
58
Reservado el derecho de modificación
8.1
Comprobaciones directamente en el circuito
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos casos,
aunque no son tan claros. A causa de una conexión paralela con
valores reales y/o complejos, especialmente si estos tienen una baja
resistencia con frecuencia de red de 50 Hz, casi siempre se obtienen
grandes diferencias en comparación con elementos/componentes
sueltos. También aquí muchas veces resulta útil, comparar con un
circuito intacto el objeto bajo prueba, si se trabaja continuamente con
circuitos idénticos (servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que no
hace falta (¡y no se debe!) conectar el circuito de comparación. Los
cables de test se colocan sucesivamente en los puntos de control
idénticos y se comparan las imágenes en la pantalla. Es posible que el
propio circuito que se esté comprobando, disponga de un circuito para
la comparación como por ejemplo en canales estéreo, funcionamiento
de contra-fase, conexiones de puentes simétricos. En caso de duda, se
puede desoldar una conexión del componente. Esta conexión se conecta
entonces con el borne CT sin señal de masa, ya que entonces se reducen
las perturbaciones de zumbido. El borne del COMP.TESTER que lleva
una señal de masa, está conectado con la masa del osciloscopio y por
esto no es sensible al zumbido.
9 Mandos de Control
1
POWER
!
1
CH1
CH1
2
CH2
CH2
3
.5
DUAL
DUAL
1
1
POWER
2
ADD
ADD
Tecla de conmutador de red con los símbolos I para ON (encendido) y
5
5
10
XY
XY
(0) para OFF (apagado). Al poner en marcha el osciloscopio se iluminan
20
primero todos los indicadores LED y el equipo realiza un test automático
6
COMP
COMP
de sus funciones. Al acabar todas las rutinas de comprobación con
éxito, el osciloscopio se posiciona en funcionamiento normal, listo para
ser utilizado. En este estado, el osciloscopio aplica todos los ajustes
X-INP
memorizados antes haber sido desconectado la última vez.
±10 V
!
COMP .
pp
TESTER
50 Hz
2
ADJUST – / +
CAT I
Permite la variación del ajuste (– = reducir / + = aumentar) de varias
funciones, según la función seleccionada con la tecla SELECT
3
LEDs de indicación
INTENS
El LED se ilumina, si se ha seleccionado con la tecla SELECT
ajuste para la intensidad de luminosidad del trazo. En esta posición,
las teclas ADJUST – / +
trazo (luminosidad). La tecla „–" disminuye, la tecla „+" aumenta la
intensidad del trazo o la señal presentada. Es conveniente, regular solo
la intensidad necesaria para visualizar bien la señal. Esta dependerá de
las características de la señal acoplada, de los ajustes del osciloscopio
y de la claridad ambiental alrededor del equipo.
FOCUS
El LED se ilumina, si se ha seleccionado con la tecla SELECT
ajuste para la nitidez (Focus) del trazo. El ajuste FOCUS actúa sobre la
presentación de la señal. Una intensidad de trazo elevada, genera un
trazo más ancho y la nitidez del trazo se reduce, lo que se puede corregir
en cierta medida, con el propio mando. La nitidez del trazo depende
2
3
4
8
ADJUST
SELECT
INTENS
+
+
FOCUS
40 MHz ANALOG OSCILLOSCOPE
TRACE
SAVE
push long
RECALL
AUTO
TRIGGER
POSITION 1
POSITION 2
1–6
NORM
AUTOSET
SLOPE
VOLTS / DIV
VOLTS / DIV
.2
5
.1
6
7
.2
5
.1
9 10
TRIGGER
50
.5
50
VAR
CH 1
20
1
20
10
10
2
CH 2
5
5
5
2
2
10
LINE
1
1
20
V
mV
V
mV
EXT
DC
DC
AC
GND
AC
GND
INV
CH 1
CH 2
INPUTS
1 M II 15 pF
max.
400 V
PROBE ADJUST
p
1 kHz / 1 MHz
ca. 0.2 Vpp
2
actúan como ajustes para la intensidad del
11
HM400
TRIG'd
X-POSITION
LEVEL
X-MAG
x10
TIME / DIV
.2
.1
12 13
ms
.5
50
VAR
20
1
AC
10
2
5
5
DC
10
2
20
1
LF
.5
50
µs
.1s
.2
.2s
.1
TV
HOLD
OFF
ON
Z-INP
EXT. TRIG / Z-INP
1 M
II
15 pF
max.
100 V
p
4
.
4
el
4
el
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