Tabla de contenido
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Factor de distorsión armónica total de voltaje y de corriente (Uthd, Ithd)
Método de medición
Ancho de ventana de análisis
Núm. de puntos de ventana
Parámetro desplegado
Rango de medición, resolución
Precisión de medición
Umbral del evento
Evento IN
Evento OUT
Tratamiento de sistema multi-
fase
Formas de onda guardadas
Factor K (factor de multiplicación) (KF)
Método de medición
Ancho de ventana de análisis
Núm. de puntos de ventana
Parámetro desplegado
Rango de medición, resolución
Precisión de medición
Umbral del evento
Evento IN
Evento OUT
Tratamiento de sistema multi-
fase
Formas de onda guardadas
Usa norma IEC61000-4-7:2002
Orden máximo: 50°
Un filtro de paso bajo anti-aliasing (FRECUENCIA DE MUSTREO) causa la atenuación de fre-
cuencias distintas al objetivo de medición de cuando menos 50 dB.
10 ciclos (50 Hz), 12 ciclos (60 Hz) u 80 ciclos (400 Hz)
Rectangular, 4,096 puntos
THD-F (factor de distorsión armónica total para la onda fundamental)
THD-R (factor de distorsión armónica total incluyendo onda fundamental)
0.00 a 100.00% (Voltaje), 0.00 a 500.00% (Corriente)
-
0.00 a 100.00%
Al inicio de los 200 ms capturados a partir del momento en que el valor absoluto fue mayor que el
umbral
Al inicio de los 200 ms capturados a partir del momento en que la lectura fue menor que (umbral
– histéresis) tras el estado de EVENTO IN
Separado por canal
Formas de onda del evento
Calculado usando la corriente RMS armónica para los órdenes 2° a 50°
(Para detalles, vea "13.10 Ecuaciones de Cálculo" (p.197).)
10 ciclos (50 Hz, 12 ciclos (60 Hz) u 80 ciclos (400 Hz)
Rectangular, 4,096 puntos
Factor K
0.00 a 500.00
-
0 a 500.0
Al inicio de los 200 ms capturados a partir del momento en que el valor absoluto fue mayor que el
umbral
Al inicio de los 200 ms capturados a partir del momento en que la lectura fue menor que (umbral
– histéresis) tras el estado de EVENTO IN
Separado por canal
Formas de onda del evento
13.3 Especificaciones de Medición
185
13
10
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