Protección De Sobreexcitación (Pvph, 24); Comprobación De Pérdida De Tensión; Protección Diferencial De Tensión (Ptov 60); Ver Valores Esquemas De Comunicación - ABB REL 670 Manual Del Operador

Protección de distancia de linea ied
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1MRK506276-UES B
11.6.5.4
11.6.5.5
11.6.5.6
11.6.6
11.6.6.1
11.6.6.2
REL 670
Manual del operador
Protección de sobreexcitación (PVPH, 24)
Prueba/Estado función/Protección de corriente/Sobreexcitación(PVPH)/OEX
Muestra hasta dos instancias de OEX con varias mediciones por instancia. Estas
mediciones indican si los valores están fuera del rango de medición (ERROR) y si
la función de sobreexcitación ha causado un disparo (TRIP). Aquí están
disponibles, entre otros datos de salida, el estado térmico como porcentaje del nivel
de disparo y el tiempo calculado para el disparo.
Comprobación de pérdida de tensión
Prueba/Estado función/Protección de tensión/PérdidaTensión/LOV
Muestra los datos de salida de la función LOV.
Protección diferencial de tensión (PTOV 60)
Prueba/Estado función/Protección de tensión/Diferencia de tensión/VDC
Muestra los datos de salida de la función VDC.
Ver valores esquemas de comunicación
Las funciones de esquemas de comunicación utilizadas junto con la protección de
distancia generan datos visibles acerca de las señales utilizadas en estas
aplicaciones. En función de las opciones elegidas, se envían desde y hacia los IED
datos acerca del extremo con alimentación débil, fallas de tierra, etc.
Lógica de esquemas de comunicación para la protección de
distancia (PSCH, 85)
Prueba/Estado función/Esquema comunicación/EsqComunicación(PSCH)/
ZCOM
Muestra las instancias disponibles de ZCOM con algunas medidas acerca de la
salida de disparo y las señales de portadora.
Inversión de corriente y lógica de extremo con alimentación débil
para la protección de distancia (PSCH, 85)
Prueba/Estado función/Esquema comunicación/
FaltaTierraInvCorrienteWEI(PSCH)/EFCA
Muestra los resultados de medición disponibles que indican el estado de disparo de
la lógica de extremo con alimentación débil.
Sección 11
Ensayos del IED
77

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