Mitutoyo SURFTEST SJ-210 Manual De Usuario página 140

Relación entre longitud de muestreo de medición y valor cut-off (λs).
Si se selecciona "P" para perfil de evaluación, se visualiza la longitud de muestreo de
medición como elemento relacionado con cut-off. El símbolo que se utiliza para
representar la longitud de muestreo de medición cambia de acuerdo con el estándar de
rugosidad establecido. Si se seleccionan los estándares de rugosidad "JIS2001",
"ISO1997", "VDA", o "Libre", se visualiza "ℓp". Si se selecciona el estándar de rugosidad
"JIS1982" se visualiza "ℓ".
Una vez ajustada la longitud de muestreo de medición, se ajusta correspondientemente
el valor cut-off (λs), según se indica seguidamente.
Perfiles de
evaluación
1
* : Si el estándar de rugosidad utilizado es "VDA", o "Libre" el valor cut-off (λs) se puede
2
* : Si el estándar de rugosidad utilizado es "JIS1982" el valor cut-off (λs) se ajusta a
7-12
Longitud de muestreo
de medición (ℓp, ℓ)
P 0.08
0.25
0.8
2.5
ajustar a "NINGUNO".
"NINGUNO".
Valor cut-off (ës)
*1, *2
2.5
*1, *2
2.5
*1, *2
2.5
*1, *2
8
No. 99MBB122A