Mitutoyo SURFTEST SJ-210 Manual De Usuario página 353

Sistema de medición de rugosidad de superficies
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● Comando de escritura
Cabecera
(2 bytes)
*1: La sección de datos se puede omitir.
Sub-campo
Comando CON
Comando para modificar las condiciones de medición / evaluación Sección de datos
Bytes
0
1
2
3
5
10
11
Cabecera
Cabecera
No. 99MBB122A
Configuración básica del comando de escritura.
Sub-campo
(3 bytes)
WR
* * *
Comando de escritura
Datos
CON
* * * * * *
Bytes: Número de bytes
Ajustes
* (estándar)
* (Perfil)
* (Longitud Cutoff λc)
* * (Nº de longitudes de muestreo)
* *. * * (Longitud evaluación arbitraria)
* (Límite superior de longitud motif A)
Filtros
Respuesta (normal)
EM
OK
CR
Respuesta (anormal)
Sub-campo
NG
* * *, * *
17. CARACTERÍSTICAS DEL PRODUCTO
EM
*1
Datos
(1 byte)
* * * * -
CR
Significado
Modificación de las condiciones
de medición o condiciones de
evaluación
0: JIS1982, 1: JIS1994, 2: JIS2001, 3: ISO1997,
4: ANSI, 5: VDA, 6: Libre
0: P, 1: R, 2: DF, 3: R-MOTIF
0: 0.08, 1: 0.25, 2: 0.8, 3: 2.5
λs se establece de acuerdo con λc.
00 - 10
0.10 - 16.00 (Si el nº de longitudes de muestreo es 00)
1: 0.02, 2: 0.1, 3: 0.5
El l
ímite superior de longitud motif B se ajusta según A.
0:2CR75 1:PC75 2:GAUSS 3:Ninguno
EM
Significado
CR
* * * : Véase "● Códigos de Error".
Bytes con código de error
* *
Descripción
17-15

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