Comando CON
Lee la medición/condiciones de evaluación. Comparte un formato común con el comando
de escritura.
Cabecera
Cabecera
Datos
Bytes
0
1
2
3
5
10
11
Comando PAR
Lee el número de parámetros actualmente personalizados.
Cabecera
RD
Cabecera
OK
* *
Número de piezas
17-18
Comando
Sub-campo
RD
CON
Respuesta
Datos
OK
* * * * *
Bytes: número de bytes desde la punta de datos
Ajustes
* (estándar)
* (Perfil)
* (Longitud Cutoff λc)
* * (Nº de longitudes de muestreo)
* *. * * (Longitud evaluación arbitraria)
*
(Límite superior de longitud motif A)
Filtros
Comando
Sub-campo
PAR
Respuesta
Datos
* *
EM
CR
EM
CR
0: JIS1982, 1: JIS1994, 2: JIS2001, 3: ISO1997, 4: ANSI,
5: VDA, 6: Libre
0: P, 1: R, 2: DF, 3: R-MOTIF
0: 0.08, 1: 0.25, 2: 0.8, 3: 2.5
ës se ajusta según ëc.
00 - 10
0.10 - 16.00 (Cuando el nº de longitudes de muestreo es
00)
1: 0.02, 2: 0.1, 3: 0.5
El l
ímite superior de longitud motif B se ajusta según A.
0:2CR75 1:PC75 2:GAUSS 3:Ninguno
EM
CR
EM
CR
Descripción
No. 99MBB122A