17.3.3
Longitudes Cutoff/ longitudes de muestreo, número de longitudes de
muestreo e intervalos de muestreo.
Longitud Cutoff
*1
(λc)
(0.00314 in)
(0.00984 in)
(0.031 in)
(0.0984 in)
*1: Estas longitudes cutoff (λc) se aplican si se especifica el perfil R.
17.3.4
Límite superior de longitudes motif/ longitudes de evaluación, número de
longitudes de muestreo e intervalos de muestreo.
Límite superior
de longitu motif
(A) (mm(in))
(0.000787)
No. 99MBB122A
Longitud de
muestreo (ℓ)
0.08 mm
0.08 mm
(0.00314 in)
0.25 mm
0.25 mm
(0.00984 in)
0.8 mm
0.8 mm
(0.031 in)
2.5 mm
2.5 mm
(0.0984 in)
Longitud de
evaluación (L) [mm
(in)]
0.02
0.3 ≤ L ≤ 0.64
(0.0118 ≤ L ≤ 0.0252)
0.1
0.65 ≤ L ≤ 3.2
(0.00394)
(0.0256 ≤ L ≤ 0.126)
0.5
3.3 ≤ L ≤ 16
(0.0197)
(0.130 ≤ L ≤ 0.630)
17. CARACTERÍSTICAS DEL PRODUCTO
ës
Intervalo de
muestreo
2.5 μm
0.5 μm
(98.4 μin)
(19.69 μin)
2.5 μm
0.5 μm
(98.4 μin)
(19.69 μin)
2.5 μm
0.5 μm
(98.4 μin)
(19.69 μin)
8 μm
1.5 μm
(315 μin)
(59.1 μin)
Longitud cutoff
(λs)
[μm (μin)]
2.5
(98.425)
2.5
(98.425)
8
(314.960)
Número de partes de
Número de
datos en longitudes
longitudes
de muestreo
de muestreo
160
500
1600
1666
Paso de
muestreo
Δx [μm (μin)]
0.5
(19.685)
0.5
(19.685)
1.5
(59.055)
1-10
1-10
1-8
1-5
17-3