2 . Grubość powłoki można odczytać bezpośrednio z
wyświetlacza i powinna być ona uśredniona z wy-
ników 5 do 10 pomiarów pojedynczych.
Metoda C
Najpierw wykonać czynności opisane w procedurze
kalibracji dwupunktowej z dwoma foliami (patrz akapit
4 .2 .3 .) . Aby jak najbardziej zbliżyć się do właściwości
powierzchni, wartość foliową można osiągnąć po-
przez zastosowanie kilku folii o grubości 50 µm .
Średnia grubość powłoki winna być wyznaczona na
podstawie wyników z 5 do 10 pomiarów pojedync-
zych . W tym przypadku bardzo korzystne okazało się
zastosowanie funkcji statystycznej .
Powierzchnia chropowata o grubości powłoki
przekraczającej 300 µm traktowana jest jako
nieistotna . W tym przypadku nie jest konieczne
stosowanie wyżej wymienionych metod kalibracji .
Ogólne wskazówki dotyczące pomiarów
Jeśli kalibracja została przeprowadzona starannie, to
wszystkie wykonywane później pomiary będą mieściły
się w zakresie gwarantowanej tolerancji pomiarowej .
Na wartości pomiarowe mogą mieć wpływ silne pola
magnetyczne występujące w pobliżu generatorów lub
torowiska z silnymi polami prądowymi. Jeśli do wyz-
naczenia wartości średniej używany jest program sta-
tystyczny, zaleca się kilkakrotne przyłożenie czujnika
do typowego punktu pomiarowego . Błędne wartości
pomiarowe lub wartości nietypowe mogą być na-
tychmiast wykasowane w menu . Ostatnia wartość
pochodzi z obliczeń statystycznych i gwarantowanych
stopni tolerancji wartości pomiarowej .
grubość powłoki = X ±s ±µ
Przykład:
Wartości pomiarowe: 150 µm, 156 µm, 153 µm
Wartość średnia: X = 153 µm
Odchylenie standardowe: s = ±3 µm
niedokładność pomiaru: µ = ±(1% wartości pomia-
rowej + 1 µm)
d = 153 ±3 ±(1,53 µm + 1 µm) = 153 ±5,5 µm
Q
instrukcja OBsługi – Miernik gruBOści pOWłOk
05 . FuNKCJA WArtOśCI grANICZNyCh
Wartości graniczne można w każdej chwili wprowadzić
za pomocą funkcji DIRECT i wybranej pamięci grupowej,
tzn . przed, podczas i po serii pomiarów . Tego typu wartości
mogą pełnić bardzo praktyczną rolę .
Każda wartość pomiarowa, znajdująca się poza określonymi
granicami tolerancji sygnalizowana jest dźwiękiem ostrze-
gawczym:
H: wartość pomiarowa jest wyższa od górnej wartości gra-
nicznej (HI limit)
L: wartość pomiarowa jest niższa od dolnej wartości gra-
nicznej (LO limit)
Wartości graniczne można określić za pomocą menu .
06 . POMIAry ZE StAtyStyKAMI
Miernik oblicza wartości statystyczne na podstawie
80 przeprowadzonych pomiarów (GRO1~GRO4 (grupa
1 - 4): możliwe jest zapisanie w pamięci łącznie 400
wartości pomiarowych) . Chociaż w trybie bezpośrednim
(Direct) nie jest możliwe zapisywanie wartości pomia-
rowych w pamięci, to możliwe jest obliczanie statystyk
tak, jak w przypadku grup GRO1~GRO4. Statystyki
wyznaczone w trybie bezpośrednim ulegają skasowa-
niu w chwili przejścia z jednego trybu pracy do drugie-
go, a także w chwili wyłączenia miernika . Obliczane są
następujące wartości statystyczne:
NO .: ilość wartości pomiarowych w trybie pracy (No . = nr)
AVG: wartość średnia (AVG – average= średnia)
Sdev .: odchylenie standardowe (dev – deviation =
odchylenie)
MAX: Wartość maksymalna
MIN: Wartość minimalna
Wielkości statystyczne
Wartość średnia ( x )
Suma wartości pomiarowych podzielona przez liczbę pomiarów .
Odchylenie standardowe (Sdev .): x = ∑ x / n
Odchylenie standardowe jest statystyką, mierzącą
rozrzut próbki wokół jej wartości średniej . Im większy
rozrzut wyników pomiaru, tym większe odchylenie
standardowe . Odchylenie standardowe zbioru liczb to
średnia kwadratowa odchylenia S
.
2
H - 9