Métodos De Medición De Autofoco - Leica X Manual De Instrucciones

MÉTODOS DE MEDICIÓN DE AUTOFOCO
Para la adaptación óptima del sistema AF a motivos, situaciones
diversas, así como a sus ajustes previos para el diseño de la imagen,
con la Leica X puede elegir entre cuatro métodos de medición AF:
1. Pulse la tecla
DELETE/FOCUS
ajuste deseado
2. Guarde el ajuste con la tecla
Medición puntual/de 1 campo
Ambos métodos de medición registran exclusivamente las partes del
motivo situadas en el centro de la imagen del monitor.
Los distintos campos están identificados por un pequeño marco AF.
Gracias al intervalo de medición especialmente reducido de la
medición puntual es posible concentrarla en detalles muy pequeños
del motivo. Para tomas de retratos se recomienda normalmente que
los ojos se reproduzcan totalmente nítidos.
El intervalo de medición algo más grande de la medición de 1 campo
es menos crítico al apuntar, por lo que resulta más fácil de manejar, y
sin embargo permite una medición selectiva.
, y, en el submenú, seleccione el
o
MENU/SET INFO
En los dos métodos de medición puede desplazar el marco AF a una
posición cualquiera de la imagen del monitor, p. ej., para una
aplicación más fácil en el caso de motivos no centrados:
1. Pulse la tecla
DELETE/FOCUS
• Se apagan todas las indicaciones excepto el marco AF. Los
triángulos rojos en todos los lados del marco indican los
sentidos de movimiento posibles.
2. Con el botón basculante en cruz, desplace el marco AF a la
posición deseada
• Para señalizar los límites de desplazamiento se apagan los
triángulos respectivos en las proximidades de los bordes.
En cualquier momento puede volver a situar el marco en la posición
centrada:
Pulse la tecla
INFO
≥1s
ES
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