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ES
MEDICIÓN Y CONTROL DE EXPOSICIÓN
Métodos de medición de la exposición
Para la adaptación a las condiciones de luz predominantes, a la
situación o a su modo de trabajo y sus ideas creativas, la Leica SL
dispone de tres métodos de medición de exposición.
Ajuste de la función
1. En la sección
CAMERA
y
2. en el submenú correspondiente, el ajuste deseado.
Nota:
Esta opción del menú se puede asignar a uno de los botones
programables para acceso directo y también al menú
Medición multizona -
En este método de medición la cámara analiza automáticamente
las diferencias de luminosidad en el motivo y, comparándolas con
las muestras de distribución de luminosidad programadas, llega a
la posible posición del motivo principal y a la correspondiente
exposición óptima.
Por lo tanto, este método es especialmente apropiado para
fotografías espontáneas, simples y, a pesar de todo, seguras,
también bajo condiciones difíciles, y por consiguiente para el uso
en combinación con el modo automático programado.
210
del menú seleccione
Exposure Metering
FAVORITES
Medición ponderada al centro -
Este método pondera más fuerte el centro del campo óptico, pero
registra también todas las otras zonas.
Permite –especialmente en combinación con la memorización del
valor de medición– un ajuste de la exposición orientado a
determinadas partes del motivo, considerando simultáneamente
todo el campo óptico.
Medición puntual -
Este método de medición está concentrado exclusivamente en una
pequeña zona en el centro de la imagen.
Esto permite una medición exacta de los más pequeños detalles
para una exposición precisa – preferentemente en combinación
con un ajuste manual. En las fotografías a contraluz, por ejemplo,
.
en la mayoría de los casos debe evitarse que el entorno claro
genere una exposición insuficiente del motivo principal. El campo
de medición mucho más pequeño de la medición puntual permite
evaluar selectivamente también este tipo de detalles del motivo.
Notas:
• El campo de medición se puede mover tanto con la medición
ponderada al centro como con la medición puntual.
• Si la medición puntual se utiliza junto con el método de
medición AF
(v. pág. 204) o la función AF
1 Point
(v. pág. 207), los campos de medición AF respectivos y el
campo de medición puntual se acoplan. En estos casos un
desplazamiento afecta por tanto a ambas mediciones.
Auto (Face)
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