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La opción de vista SUPERIOR permite explorar de
forma continua en modo TEMPORIZADO con una sonda
multifase o exploración CODIFICADA con una sesión de
memoria limitada si se utiliza con una sonda equipada
con un codificador. La vista TOP representa la proyección
de reflectores de una zona de interés de la puerta A a la
B en un plano visible.
La vista SUPERIOR (iniciada ajustando la función de
modo de vista en el submenú VISTA en SUPERIOR) se
crea con datos recogidos de la región entre la puerta A y la
B de una exploración de sector o lineal. Una vista superior
congelada proporciona acceso a datos de la memoria
intermedia tanto para tiempo de vuelo (TOF) como para
amplitud de eco. Los valores de TOF y de porcentaje de
amplitud se representan en la vista SUPERIOR mediante
paletas de color que puede seleccionar el usuario. Los
datos de memoria intermedia de la vista SUPERIOR
(datos de TOF y amplitud de las puertas A y B) se pueden
almacenar como parte de un conjunto de datos.
NOTA: Durante el proceso de exploración los
datos de vista SUPERIOR se añaden a la memoria
intermedia del instrumento. La memoria intermedia es
sólo temporal. Para guardar los datos de la memoria
intermedia hay que guardarlos en un conjunto
de datos. Observe que una vez que la memoria
intermedia está llena los datos se sobrescriben
inmediatamente en modo TEMPORIZADO. En
el modo CODIFICADO, cuando una memoria
intermedia se llena, se para automáticamente el
proceso de exploración.
Este capítulo explica cómo preparar y utilizar el modo
de vista SUPERIOR, que requiere previamente haber
instalado esta función opcional en su aparato. El capítulo
incluye indicaciones acerca de los temas siguientes:
•
Configurar los ajustes estándares de multifase
(vista MARCO designada) para proporcionar la vista
SUPERIOR deseada
•
Pasar a vista superior durante una exploración
continua (ver modo TEMPORIZADO en el
apartado
8.1.2).
•
Pasar a vista SUPERIOR durante una exploración
dirigida por codificador
•
Adquirir datos de vista SUPERIOR durante una
exploración continua o dirigida por codificador
(apartado
8.2).
•
Congelar la vista SUPERIOR y navegar por los
datos de la memoria intermedia
•
Almacenar los datos de vista SUPERIOR en un
conjunto de datos
(apartado
•
Realizar una sesión normal de adquisición de
datos CODIFICADA siguiendo un resumen de la
aplicación
(apartado
Manual de funcionamiento de PHASOR XS
8. Uso de la función SUPERIOR (opcional)
(apartado
8.1.1).
(apartado
8.1.3).
(apartado
8.3).
8.4).
8.5).
8. Uso de la función SUPERIOR (opcional)
NOTA: Para evitar eliminar inintencionadamente datos
de la vista SUPERIOR antes de haberlos almacenado
en un conjunto de datos o de haberlos evaluado,
consulte las diversas notas del
8.1
Preparativos para el uso de vista
SUPERIOR
La opción de vista SUPERIOR permite explorar de forma
continua con una sonda multifase o exploración con una
sesión de memoria limitada si se utiliza con una sonda
equipada con un codificador. La vista SUPERIOR se
genera con datos recogidos de la región de las puertas
A y B de una exploración de sector o lineal.
8.1.1 Ajuste de la multifase antes de
mostrar una vista SUPERIOR
Antes de mostrar la vista SUPERIOR, se debe ajustar
la vista estándar de multifase (designada vista MARCO)
(consulte el
capítulo
2). La vista SUPERIOR se puede
crear con cualquier tipo de exploración multifase estándar
(lineal o de sector). Es importante recordar que la imagen
de vista SUPERIOR se basa sólo en los datos de TOF y
amplitud grabados en las puertas A y B. Además, cuando
se almacena un conjunto de datos mientras se trabaja
en vista SUPERIOR, se almacenan los datos de TOF y
amplitud de las puertas A y B (adquiridos y añadidos a la
memoria intermedia); sin embargo, las exploraciones A
y otros resultados no están disponibles.
Preparación para crear una vista SUPERIOR.
Paso 1: Asegúrese de que la función de modo de
VISTA (en el submenú VISTA del menú VISOR) está en
el ajuste MARCO. Este ajuste se corresponde con el
funcionamiento en multifase estándar.
Paso 2: Prepare una exploración de sector o lineal que
encaje con la sonda instalada, el tipo de material y
los requisitos de la inspección como se describe en el
capítulo
2. Calibre la combinación de aparato y sonda.
Paso 3: Ajuste el punto de inicio de la puerta A y/o B y
la anchura para capturar la zona de interés del material
de prueba
(figura
8-1). Consulte el
ubicar las puertas.
Paso 4: Ajuste las funciones específicas de vista
SUPERIOR como se describe a continuación.
NOTA: La imagen de vista SUPERIOR se basa en
datos de amplitud y de TOF grabados en las puertas
A y B. Se deben activar y ubicar dichas puertas para
capturar el rango de interés del material de prueba.
apartado
8.4.
apartado 2.8.1
para
Página 95
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