Publicidad
16
Unidad de enfoque piezoeléctrico del microscopio
vertical
Si su sistema cuenta con una unidad de enfoque piezoeléctrico (véase Figura 82), tenga en
cuenta en todo caso las indicaciones recogidas a continuación:
• Tenga cuidado de que el portamuestras no choque contra el objetivo y resulte dañado o
se produzca una rotura del cristal. Si se produjera, el objetivo podría resultar también
dañado.
• Antes de conectar el sistema o iniciar el software LAS AF, debe bajar al máximo la
platina para muestras y retirar el portamuestras de la platina. En caso de inobservancia
pueden dañarse o destruirse las muestras y los objetivos al inicializarse la unidad de
enfoque piezoeléctrico durante la puesta en marcha del sistema/software.
• No realice el cambio de objetivo de forma automática. El movimiento automático puede
dañar el cable de la unidad de enfoque piezoeléctrico.
• No realice ajustes en el controlador de la unidad de enfoque piezoeléctrico (véase
Figura 83), porque ya ha sido ajustado convenientemente por el servicio técnico de
Leica.
• Cuando cambie el objetivo de la unidad de enfoque piezoeléctrico, debe programar el
nuevo objetivo en LAS. Para ello, tenga en cuenta las indicaciones del manual de
instrucciones suministrado con el microscopio.
• Tenga en cuenta que la posición de enfoque de un objetivo con unidad de enfoque
piezoeléctrico es 13 mm más baja que la de los objetivos habituales. Para garantizar el
mismo plano de enfoque, se monta un anillo distanciador (véase Figura 84) en el resto de
objetivos.
Figura 82:
El objetivo puede desplazarse 150 μm hacia arriba y hacia abajo. El rango de
desplazamiento total es de 300 μm.
Indicación en el controlador del piezofoco:
• Posición más elevada: 350 μm
• Posición media: 200 μm
Unidad de enfoque piezoeléctrico en el revólver portaobjetivos
Unidad de enfoque piezo del microscopio vertical
105
Publicidad
