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flir CM276 Manual Del Usuario página 31

Pinza amperimétrica igm con meterlink

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Configuración de la pinza
Para obtener información adicional sobre emisividad, consulte la Sección
6.3.5, Emisividad y la Sección 15.1 (Valores de emisividad para materiales
comunes).
6.6.2.2 Configuración de la temperatura reflejada
La temperatura reflejada (también conocida como temperatura de fondo) es
la radiación térmica procedente de otros objetos que reflejan el objetivo que
está midiendo. La temperatura reflejada puede afectar la temperatura que mi-
de una cámara térmica.
1. Vaya al menú de temperatura reflejada (Configuración > Parámetros de
medición > Temperatura reflejada).
2. Utilice los botones de flecha hacia arriba/abajo para seleccionar la
temperatura.
3. Presione OK (Aceptar) para confirmar.
6.6.2.3 Configuración de la temperatura atmosférica
Las condiciones atmosféricas (gases y partículas dispersas entre el objeto y
la cámara térmica) tienden a atenuar la radiación. La cantidad de atenuación
depende de la longitud de onda de radiación. La niebla, las nubes, la lluvia y
la nieve afectarán las mediciones térmicas. Ajustar esta configuración puede
mitigar estos efectos.
1. Vaya al menú de temperatura atmosférica (Configuración > Parámetros
de medición > Temperatura atmosférica).
2. Utilice los botones de flecha hacia arriba/abajo para seleccionar la
temperatura.
3. Presione OK (Aceptar) para confirmar.
6.6.3 Menú de opciones de guardado
En el menú de opciones de guardado, puede optar por guardar una imagen
de luz visible independiente en formato *.jpg con cada imagen térmica.
1. Presione OK (Aceptar) en el menú de opciones de guardado.
2. Vuelva a presionar OK (Aceptar) para ver las opciones.
3. Desplácese hasta Sí o No y presione OK (Aceptar) para confirmar.
6.6.4 Configuración del dispositivo
En este menú, puede configurar el modo de diodos (clásico o inteligente), el
idioma, la fecha y la hora, las unidades de medida, la configuración del APO,
la activación y desactivación de Bluetooth, el brillo de la pantalla y la veloci-
dad de muestreo del registrador de datos, como se describe en las siguientes
#NAS100167; r. AA/95680/95684; es-MX
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