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Análisis de muestras
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For instructions on reviewing results and handling sample data, refer to the Agilent
MicroLab PC Software User's Guide.
Accesorio de muestreo de ATR de seleniuro de zinc
de 5 rebotes
El accesorio de muestreo de la reflectancia total atenuada de seleniuro de zinc de 5
rebotes (ATR de ZnSe de 5 rebotes), aprovecha las propiedades físicas de la luz
cuando se encuentra con dos materiales con diferencias en el índice de refracción.
Al entrar en contacto con una muestra que tiene un índice de refracción diferente, la
luz infrarroja crea una onda evanescente, la cual proporciona una profundidad de
penetración muy pequeña y específica en la muestra antes de volver a reflejar en el
detector del espectrómetro. La luz se refleja varias veces para ampliar la longitud
de trayectoria efectiva y así ofrece mejores niveles de detección con respecto a los
del ATR de un solo rebote.
Si bien es fácil de usar, el ATR de un solo rebote tiene la limitación de la baja
sensibilidad en comparación con otras técnicas de FTIR. Muchos métodos ahora
exigen ATR de varios rebotes por la mayor sensibilidad que brindan. La ATR de
ZnSe de 5 rebotes mejora los niveles de detección y aún brinda la sencillez de uso
del ATR de un rebote. Además, el accesorio respeta el método de Biodiésel ASTM
D-7371, lo cual lo hace ideal para esta aplicación.
Cuando se activa el modo de análisis de la muestra, la longitud de trayectoria de la
muestra de ATR es fija según el número de reflexiones en el ATR. La alineación del
accesorio también está configurada previamente en fábrica y, por lo tanto, no se
requiere un ajuste óptico o mecánico.
Espectrómetro Agilent Cary 630 FTIR Guía del usuario
Para obtener instrucciones sobre cómo recopilar un espectro de muestra
usando el software, consulte la Guía del usuario del software MicroLab PC de
Agilent.
Después de completar la medición de la muestra, limpie inmediatamente los
residuos de la muestra del accesorio siguiendo las instrucciones que se
proporcionan en la página 35. Es importante asegurarse de que el visor de
muestreo de Ge y la punta de la prensa de muestra estén libres de residuos de
la muestra anterior.
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