Pestaña Settings (Es. Ajustes) - Olympus TERRA Manual Del Usuario

DMTA-10030-01ES [U8023499] — Rev. C — Enero de 2015
Nombre de
archivo
nn-ka.TIF
nn-ka.TXT
nn-thresh.TIF
nn-thresh.TXT
nn-xrf.TXT
Plot.gnuplot
4.2.3 Pestaña Settings (es. Ajustes)
En la pestaña Settings es posible modificar los valores predefinidos de adquisición de datos,
o crear y personalizar modos de análisis. Los ajustes predefinidos determinan los parámetros
utilizados para cada ensayo.
Los modos personalizados permiten modificar los ajustes predefinidos de adquisición de
datos para crear un conjunto de parámetros analíticos que será designado a una aplicación
específica. Por ejemplo, la relación entre la señal y el ruido mejora con la suma de análisis
adicionales. De esta manera, la creación de un modo personalizado que determina una alta
cantidad de adquisiciones por medición para materiales complejos, o para aquellos con bajas
concentraciones anticipadas en un fase dada, permitirá incrementar la fiabilidad de
los análisis.
Para modificar los valores de los ajustes predefinidos
1. En la lista Defaults, deslice la barra lateral hasta identificar un parámetro, seleccione
su campo correspondiente y modifique el valor. Véase la Figura 4-6 en la página 45.
2. Modifique otros parámetros según sus necesidades.
44 Capítulo 4
Tabla 9 Tipos de archivos disponibles (continuación)
Definición
Archivos de imágenes para
los datos de muestras.
Estos muestran sólo la línea de
radiación Ka del cobalto.
Datos genéricos de análisis de
difracción en función
del ángulo 2θ. Estos utilizan
sólo la línea de radiación Ka
del cobalto.
Archivos de imágenes de
los datos del umbral. Este
incluye datos de la línea de
radiación Ka del cobalto de
fotones superiores.
Archivos de datos del umbral.
Este incluye datos de la línea de
radiación Ka del cobalto de
fotones superiores.
Cuenta con los datos de
las intensidades XRF según
el nivel de energía y
la configuración de pasos de
la cámara.
Es utilizado por la interfaz del
usuario TERRA.
Uso
Es utilizado para determinar
la orientación preferencial o
la estadística de muestra inadecuada.
Es utilizado cuando las muestras
cuentan con un alto nivel de
fluorescencia de rayos X. Este modo
acepta sólo los fotones de difracción de
la línea de radiación Ka del cobalto.
Es utilizado para determinar los datos
discriminados según los ajustes
del umbral.
Es utilizado cuando las muestras
cuentan con alto nivel de fluorescencia
de rayos X. Este modo acepta sólo
los fotones superiores de difracción a
la línea de radiación Ka del cobalto.
Es utilizado para tratamiento
cualitativo y cuantitativo XRF.
Ningún uso.