X-Rite PlateScope Guía De Uso página 26

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P L A T E S C O P E
NOTA: Si no se almacenan mediciones de tira, no aparecerá la fecha o la hora.
Icono modo Tira
3. Oprima el botón de Medición para activar el modo de determinación de objetivo (monitoreo);
o use el anillo de navegación para resaltar el icono de la Flecha Siguiente y oprima el
botón de Selección.
4. Ajuste la configuración actual si es necesario. Use el anillo de navegación para resaltar el
icono de Imagen, Tramado, Substrato o Iluminación.
NOTA: Para cambiar una configuración de medición será necesario medir un parche "tonal".
Esta medición permitirá que el instrumento memorice o se ajuste específicamente a dicha
superficie para mayor precisión. Si no hay parche tonal disponible, mida un parche de medio
tono (que se aproxime al 50% lo más posible).
5. Oprima el botón de Selección para alternar entre las diversas opciones disponibles. La opción
visualizada es la opción activa. Consulte Medición de punto para ver la explicación de cada
opción.
NOTA: Una vez iniciada la secuencia de medición, no se podrá cambiar la configuración.
Deberá eliminar todos los parches antes de poder cambiar la configuración. Consulte más
adelante para ver información de eliminación de parches.
Retícula de posicionamiento
6. Posicione la ventana de objetivo del instrumento sobre el parche de 2% de la tira de objetivo
usando el icono de retícula en la pantalla.
24
Tira actual (1)
Posición
Tramado
Imagen
Ubicaciones de almacenamiento
disponibles (20)
Salir
Hora/Fecha de
tira almacenada
Eliminar tiras
Flecha Siguiente
Área de medición
Substrato
Ajuste de exposición
Iluminación

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