X-Rite PlateScope Guía De Uso página 22

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P L A T E S C O P E
11. Posicione correctamente la ventana de objetivo del instrumento sobre el parche de 10% de
la escala graduada 175 LPI usando el icono de retícula en la pantalla.
12. Oprima el botón de Medición. Si el parche se midió correctamente, aparecerá una marca de
verificación sobre el parche de 10%.
13. Repita los pasos 10 al 12 hasta medir los cinco parches restantes en la escala graduada 175 LPI.
NOTA: Si la medición falló o se omitió el parche, es posible que aparezca un signo menos (-)
en pantalla.
Si desea medirlo nuevamente, use el anillo de navegación para resaltar el icono de la
Papelera y oprima el botón de Selección. Cada vez que selecciona la Papelera, el último
parche ingresado se eliminará.
14. Resalte el icono de la Flecha Siguiente y oprima el botón de Selección. La pantalla vuelve
a la pantalla principal de calibración y muestra la información actualizada.
NOTA: Si el proceso de verificación falló o el parche fue omitido, aparecerá una "x" en lugar
de una "marca de verificación" sobre el icono del instrumento.
15. Seleccione el icono de Salida y guarde la referencia de calibración en su estuche protector.
20
Verificaciones indican
que los parches se
midieron correctamente
Flecha Siguiente
Salir

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