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Figura 6. Posicionamiento del dispositivo de sujeción de muestra
En el modo de limpieza y carga de la muestra, el dispositivo de
sujeción de muestra debe estar en la posición más alta, para que la
punta de esta esté bien por arriba de el visor de muestreo de cristal
de diamante (consulte la Figura 7). Sólo en esta posición, se puede
acceder fácilmente al área de montaje de la muestra para cargarla en
su lugar y limpiar las superficies de muestreo antes de analizar la
siguiente muestra.
Sólo la versión de ATR de reflexión única tiene un dispositivo de sujeción de muestra.
NOTA
Cristal de diamante en
el dispositivo ATR
Figura 7. Dispositivo de sujeción de muestra en la posición más alta que ofrece fácil acceso
para la carga y limpieza de la muestra
FTIR serie 4500 de AgilentManual de operación
Análisis de muestras
Clavija de bloqueo accionada por resorte
Dispositivo de sujeción
de muestra
Punta del dispositivo
de sujeción de muestra
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