Tabla de contenido
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Especificaciones técnicas
Modo « Registrador »
Características
Duración de registro
Frecuencia de muestreo
Captura de defectos
Disparo
Duración del evento de disparo
Valor mínimo de la duración
Valor máx de la duración
Visualización
Precisión vertical, horizontal
Especificaciones técnicas
Modo Análisis de «Armónicos»
Visualización de « Armónicos »
Armónicos pares
Armónicos impares
Todos los armónicos
Frecuencia del Fundamental
de la señal analizada
Precisión de las medidas
Nivel de la Frecuencia Fundamental
Nivel de Armónicos
Distorsión armónicos (THD)
X - 190
no equipado con la opción
EXTENDED ACQUISITION MEMORY
de 800 µs a 17 min 51 seg
10 defectos en memoria hasta 500
defectos en archivos
Búsqueda de los disparos para análisis de las muestras,
Disparos y detección de:
•
Señal superior a un umbral
•
Señal inferior a un umbral
•
Señal inferior o superior a un umbral
•
Señal fuera de dos límites definidos
Disparo si la condición se verifica durante un tiempo parametrable.
Duración registro / 625
Duración registro / 4
Búsqueda de mínimo y de máximo
Especificaciones idénticas a las del módulo "Osciloscopio"
Selección de la página en el menú «Visual»
de 2 a 60 + Fundamental en 2 páginas
de 3 a 61 + Fundamental en 2 páginas
de 2 a 61 + Fundamental en 4 páginas
de 40 a 450 Hz
± (2 % + 10 UR)
± 3 (% + 10 UR)
± 4 %
OX 6062-II - OX 6202-II
equipado con la opción
EXTENDED ACQUISITION MEMORY
de 2 segundos a 1 mes
100 defectos en memoria hasta 200
Búsqueda de defectos
Osciloscopios de dos canales
Especificaciones técnicas
de 40 µs a 53,5 seg
defectos en archivos
Duración registro / 12500
Duración registro / 4
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