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Funciones de prueba
C.1.2
Pruebas individuales
Memoria interna/
Los módulos de memoria del OP son comprobados mediante pruebas de escritura –
externa
lectura.
Si aparece un error en el display, se visualiza la dirección de la memoria errónea.
Nota
En el caso del SRAM, EEPROM y Flash, el contenido de la memoria se salva en la
DRAM antes de la prueba. Por ello, se debería comprobar primero la DRAM res-
pecto a la ausencia de errores.
En caso de error, los datos salvados no se vuelven a cargar. El contenido de la me-
moria comprobada está distruido. Lo mismo es válido en caso de fallo de la tensión.
Las diversas pruebas de memoria:
K1
F9
F10
F11
F12
La prueba de la memoria Flash dura aprox. 2 minutos
Una vez concluída la prueba se puede cargar de nuevo o desechar el contenido de la
memoria Flash salvado en la DRAM.
ACK
F13
Se comprueba la interface para el módulo de memoria (sólo es posible cuando hay
enchufado un módulo SRAM de 512 Kbyte).
C-4
DRAM
EPROM
SRAM
EEPROM
Flash
Cargar de nuevo datos en la Flash
Desechar datos
Prueba de Jeida
Manual del equipo OP25, OP35, OP45
Edición 04/96
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