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Test De Corriente Oscura; Descripción Del Test De Corriente Oscura Del Detector De Longitud De Onda Variable; Evaluación Del Test De Corriente Oscura Del Detector De Longitud De Onda Variable; Posibles Causas Del Fallo Del Test - Agilent Technologies LC Agilent 1220 Infinity Manual De Usuario

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Funciones de test y calibración
Detector de longitud de onda variable (VWD)

Test de corriente oscura

Descripción del test de corriente oscura del detector de longitud de onda
variable
El test de corriente oscura mide la corriente de fuga en los circuitos de refe-
rencia y de muestra. El test se utiliza para comprobar si existen defectos en los
diodos de muestra o de referencia o en los circuitos del convertidor A/D que
puedan provocar una falta de linealidad o un ruido excesivo en la línea base.
Durante el test, la lámpara está apagada. A continuación, se mide la corriente
de fuga en ambos diodos. El test evalúa los resultados automáticamente.
Evaluación del test de corriente oscura del detector de longitud de onda
variable
Tabla 35
Circuito de muestra
Circuito de referencia

Posibles causas del fallo del test

Tabla 36
Causa
El diodo de muestra es defectuoso.
La tarjeta del convertidor A/D de muestra es
defectuosa.
Tabla 37
Causa
El diodo de referencia es defectuoso.
La tarjeta del convertidor A/D de referencia es
defectuosa.
170
Límites
El ruido del circuito de muestra supera el límite:
El ruido del circuito de referencia supera el límite:
<7900 recuentos
<7900 recuentos
Acción a seguir
Cambie el diodo de muestra.
Cambie la tarjeta del convertidor A/D de
muestra.
Acción a seguir
Cambie el diodo de referencia.
Cambie la tarjeta del convertidor A/D de
referencia.
LC 1220 Infinity

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