Descargar Imprimir esta página

SICK microScan3 Core I/O AIDA Instrucciones De Uso página 136

Escáner láser de seguridad
Ocultar thumbs Ver también para microScan3 Core I/O AIDA:

Publicidad

13
DATOS TÉCNICOS
136
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
 
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Campos
Campos controlados de
forma simultánea
Registros de campo
Casos de supervisión
Ángulo de exploración
Resolución del campo de pro‐
tección
Resolución angular
Dispositivos con alcance del campo de protección máx. de 4,0 m
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 30 ms
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Dispositivos con alcance del campo de protección máx. de 5,5 m
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 30 ms
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Dispositivos con alcance campo de protección máx. de 9,0 m
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 50 ms
Tiempo de respuesta
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Tiempo de ciclo de exploración
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Propuesta del campo de protección generalmente necesaria (RT = rango de tolerancia del
escáner láser de seguridad)
microScan3 Core I/O AIDA
≤ 64 m
≤ 4
≤ 4
≤ 4
1
275° (–47,5° ... 227,5°)
30 mm, 40 mm, 50 mm, 60 mm, 70 mm, 150 mm, 200 mm
0,51°
0,39°
0,51°
0,39°
0,125°
0,1°
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 141
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 141
≥ 90 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 141
30 ms o 40 ms (ajustable)
30 ms o 40 ms (ajustable)
40 ms o 50 ms (ajustable)
1)
8025404/1IAN/2022-12-15 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso

Publicidad

loading