SICK microScan3 Core I/O AIDA Instrucciones De Uso página 142

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DATOS TÉCNICOS
13.5 Historia temporal de las comprobaciones de las OSSD
Para lograr una compatibilidad electromagnética superior en condiciones del entorno electromagnético difíciles, se recomienda ajustar
8)
el tiempo de filtro de entrada del control conectado (filtro On/Off) en un valor ≥ 5 ms. Debe tener en cuenta que de este modo aumenta
el tiempo de respuesta de todo el sistema en el tiempo de filtrado ajustado, como mínimo.
142 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
• Tiempo del ciclo de exploración
• Protección contra influencias ajustada
• Evaluación múltiple ajustada
Se puede calcular el tiempo de respuesta con la siguiente fórmula:
t = (t + t ) × n + t
R S I O
Donde...
•
t = Tiempo de respuesta
R
• t = Tiempo del ciclo de exploración
S
Ajuste "30 ms": t
°
Ajuste "40 ms": t
°
Ajuste "50 ms": t
°
• t = Tiempo de la protección contra influencias
I
Modo 1 (ajuste previo): t
°
Modo 2: t = 1 ms
°
I
Modo 3: t = 2 ms
°
I
Modo 4: t = 3 ms
°
I
• n = Evaluación múltiple ajustada
Preajustado n = 2.
La evaluación múltiple puede modificarse para el escáner láser de seguridad o
para cualquier campo individual (2 ≤ n ≤ 16).
•
t = Tiempo de procesamiento y salida
O
Dependiendo de la salida utilizada:
Pareja de OSSD 1: t
°
Tabla 30: Tiempo de respuesta de un escáner láser de seguridad individual
Tiempo del ciclo de Protección contra
exploración (t ) influencias (t
S
30 ms Modo 1
Modo 2
Modo 3
Modo 4
40 ms Modo 1
Modo 2
Modo 3
Modo 4
50 ms Modo 1
El escáner láser de seguridad comprueba las OSSD a intervalos periódicos. Para ello,
el escáner láser de seguridad conmuta cada OSSD activa brevemente (durante un
máximo de 300 μs) al estado apagado y comprueba si este canal está libre de tensión
durante ese tiempo.
Asegúrese de que el control de la máquina no reacciona a esos pulsos de test y de que
la máquina no se desconecta.
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
= 0 ms
I
= 10 ms
O
Salida (t
O
)
I
0 ms Par de OSSD 1
1 ms Par de OSSD 1
2 ms Par de OSSD 1
3 ms Par de OSSD 1
0 ms Par de OSSD 1
1 ms Par de OSSD 1
2 ms Par de OSSD 1
3 ms Par de OSSD 1
0 ms Par de OSSD 1
8)
) t = Tiempo de res‐
R
puesta con evaluación
múltiple n
n × 30 ms + 10 ms
n × 31 ms + 10 ms
n × 32 ms + 10 ms
n × 33 ms + 10 ms
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
n × 50 ms + 10 ms
8025404/1IAN/2022-12-15 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso