SICK microScan3 Core I/O AIDA Instrucciones De Uso página 143

13.6 Alcance
8025404/1IAN/2022-12-15 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 73: Pruebas de desconexión
t Tiempo de ciclo de exploración
S
• Ajuste "30 ms": t
• Ajuste "40 ms": t
• Ajuste "50 ms": t
≤ 300 µs
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 74: Duración y desfase temporal de las pruebas de desconexión en una pareja de OSSD
t Tiempo de ciclo de exploración
S
• Ajuste "30 ms": t
• Ajuste "40 ms": t
• Ajuste "50 ms": t
Alcance del campo de protección
El alcance efectivo del campo de protección depende del modelo de escaner, del
tiempo de ciclo de exploración ajustado y de la resolución de objeto ajustada.
Tabla 31: Alcance de campo de protección (dispositivos con alcance campo de protección máx.
de 4,0 m)
Resolución
≥ 70 mm
50 mm
40 mm
30 mm
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
4 × t
S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
Tiempo del ciclo de exploración:
40 ms
4,00 m
3,50 m
3,00 m
2,30 m
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
DATOS TÉCNICOS
t t t
S S S
≤ 300 µs
Tiempo del ciclo de exploración:
30 ms
4,00 m
3,00 m
2,30 m
1,70 m
13
t
t
t
t
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