Agilent Technologies FTIR ExoScan 4100 Serie Manual De Operación página 7

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FTIR ExoScan serie 4100 de Agilent Manual de operación
Sistema de reflectancia externa FTIR ExoScan serie 4100 de
Agilent: para el análisis químico de muestras de superficie
sólidas o duras, especialmente para medición de espesores
de capas delgadas y películas sobre superficies reflectantes.
Las aplicaciones típicas incluyen la medición de espesores,
la degradación química de los compuestos y el análisis de
anodización de los metales. El Sistema de reflectancia externa
utiliza una sonda de reflectancia especular de 45 grados o una
sonda de reflectancia especular de ángulo rasante. La sonda de
45 grados es óptima para el análisis de películas delgadas de más
de 1 micrón de espesor. La sonda de ángulo rasante es óptima
para el análisis de películas súper delgadas inferiores a 1 micrón
de espesor. La reflectancia especular es un método ideal para el
análisis de la contaminación de la superficie. La sonda de ángulo
rasante se debe utilizar al analizar un nivel de contaminación
muy bajo (niveles de espesor nanómetros). Aunque originalmente
se diseñó para ser una herramienta de reflectancia especular, el
sistema de reflectancia externa también puede ser utilizado para
algunas mediciones de reflectancia difusa, que es un método
ideal para el análisis de polvos, por ejemplo.
Sistema de reflectancia interna FTIR ExoScan serie 4100 de
Agilent: para el análisis químico de líquidos, polvos, pastas
y geles. El Sistema de reflectancia interna utiliza una sonda
de muestreo óptica de diamante que incorpora la técnica de
reflectancia total atenuada (ATR). Este método es óptimo para
la identificación de una variedad de muestras y tiene la ventaja
de que no se requiere la preparación de muestras para obtener
los niveles adecuados de absorbancia IR. La sonda ATR de
diamante para el FTIR ExoScan serie 4100 es un accesorio ATR
de reflexión única. La técnica de muestreo ATR de reflexión
única es ideal para identificar las muestras gruesas o muy
absorbentes, donde se necesitan pequeñas longitudes de
trayectoria de IR (generalmente una profundidad de penetración
de 2 micrones).
Presentación
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