Reflectancia Externa - Agilent Technologies FTIR ExoScan 4100 Serie Manual De Operación

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Análisis de muestras

Reflectancia externa

El instrumento FTIR ExoScan serie 4100 se puede proporcionar con
una interfaz de sonda de muestreo dedicada llamada la sonda de
reflectancia externa. La sonda de reflectancia externa se ofrece
en dos versiones: la sonda de reflectancia de 45 grados, capaz de
realizar mediciones de reflectancia difusa y especular, y una sonda
de reflectancia especular de ángulo rasante. Cuando entran en
contacto con una muestra, la luz de los rayos infrarrojos (IR) pasa a
través de la superficie superior de la muestra antes de ser reflejada
nuevamente en la muestra y en el detector del sistema ExoScan serie
4100. Esta longitud de trayectoria pequeña y consistente significa
que no se requiere la preparación de la muestra para obtener buenos
resultados de medición de una variedad de muestras. La clave para
obtener buenos resultados con la reflectancia externa es asegurarse
de que la punta de la sonda queda en contacto estable con la
superficie de la muestra y que no se mueve durante el proceso de
medición. La técnica de reflectancia puede ser utilizada para la
medición de espesores, la degradación química de los compuestos
y el análisis de anodización de los metales.
La sonda de 45 grados es óptima para el análisis de películas
delgadas de más de 1 micrón de espesor. La sonda de ángulo rasante
es óptima para el análisis de películas súper delgadas inferiores
a 1 micrón de espesor. La reflectancia especular es un método ideal
para el análisis de la contaminación de la superficie. La sonda de
ángulo rasante se debe utilizar al analizar un nivel de contaminación
muy bajo (niveles de espesor nanómetros). Aunque originalmente se
diseñó para ser una herramienta de reflectancia especular, el sistema
de reflectancia externa también puede ser utilizado para algunas
mediciones de reflectancia difusa, que es un método ideal para el
análisis de polvos, por ejemplo.
La medición de reflectancia externa requiere el uso de una muestra
de referencia para realizar la medición de fondo antes de analizar la
muestra. La muestra de referencia se incorpora en el FTIR ExoScan
serie 4100 por medio de un disco de oro montado en una tapa que
encaja en la punta de la sonda de reflectancia. El sistema ExoScan
serie 4100 ofrece dos tapas de referencia diseñadas para este fin: una
tapa de referencia de oro difusa con un acabado áspero, y una tapa
de referencia de espejo de oro con un acabado muy liso.
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FTIR ExoScan serie 4100 de Agilent Manual de operación

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