SICK microScan3 Core I/O Instrucciones De Uso página 153

Escáner láser de seguridad
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8016349/15ZS/2019-11-14 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Campos
Campos controlados de
forma simultánea
Registros de campos
Casos de supervisión
Ángulo de exploración
Resolución del campo de pro‐
tección
Resolución angular
Dispositivos con alcance de campo de protección máx. de 4,0 m
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 30 ms
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 40 ms
Dispositivos con alcance de campo de protección máx. de 5,5 m
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 30 ms
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 40 ms
Dispositivos con alcance de campo de protección máx. de 9,0 m
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 40 ms
Tiempo del ciclo de explo‐
ración: 50 ms
Tiempo de respuesta
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 9,0 m
Tiempo de ciclo de exploración
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 9,0 m
Suplemento del campo de protección necesario general (BT = Banda de tolerancia del
escáner láser de seguridad)
Dispositivos con alcance de
campo de protección máx.
de 4,0 m
microScan3 Core I/O
≤ 8
≤ 4
≤ 8
≤ 2
275° (–47,5° ... 227,5°)
30 mm, 40 mm, 50 mm, 60 mm, 70 mm, 150 mm, 200 mm
0,51°
0,39°
0,51°
0,39°
0,125°
0,1°
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 159
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 159
≥ 90 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 159
30 ms o 40 ms (ajustable)
30 ms o 40 ms (ajustable)
40 ms o 50 ms (ajustable)
65 mm
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O
13
DATOS TÉCNICOS
1)
153

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