Circuitos De Las Salidas De Datos De Prueba (Tdo) - Panasonic MINAS A6 Multi Serie Manual De Referencia Técnica

Pruebas parametrizadas y de funcionamiento
Elemento de
Prueba
entrada
de fallos
característico
cruzados
Doble canal
-
-
×
-

5.3.1.2 Circuitos de las salidas de datos de prueba (TDO)

Además de las entradas binarias SDIx la parte de seguridad también tiene dos salidas de datos de prueba
(salidas de reloj) TDOx disponibles. Las salidas de datos son salidas de conmutación de 24V CC que solo
están destinadas al monitoreo de las entradas binarias.
Las salidas de datos no se utilizan para otras funciones dentro de la aplicación.
Las salidas de datos solo pueden ser sometidas a una corriente neta de 250mA.
Sin el uso de pulsos, las entradas binarias pueden ser cableadas de la siguiente manera:
•
Con un solo canal, se pueden construir estructuras de sensores autocontrolados hasta la
Categoría 2 y alcanzar de esta manera el nivel de rendimiento correspondiente según la
norma EN ISO 13849-1.
•
Con los sensores de canal dual y una prueba de funcionalidad en un plazo de 24 horas, se
pueden construir estructuras hasta la categoría 3 y alcanzar de este modo el nivel de
rendimiento correspondiente según la norma EN ISO 13849-1.
•
Con los sensores de canal dual y una prueba de funcionalidad en un plazo de 24 horas, se
pueden construir estructuras hasta la categoría 4 y alcanzar de esta manera el nivel de
rendimiento correspondiente según la norma EN ISO 13849-1.
5-7
Con Prueba cíclica
Prueba
vigilancia en
de inicio
de tiempo funcionamiento
- - -
○ ○
-
- - -
× - -
Cobertura
de
Definición de la
diagnóstico
medida
(DC)
[porcentaje]
90 Comparación cruzada
de las señales de
entrada con una
prueba dinámica, si
los fallos cruzados no
pueden detectarse
(en caso de entradas
y salidas múltiples).
Impulso de prueba
90 a 99
cíclica a través de una
modificación dinámica
de las señales de
entrada.
99 Comparación cruzada
de las señales de
entrada con
resultados inmediatos
e intermedios en la
lógica (L), así como la
temporización y la
ejecución del
programa lógico, la
vigilancia y la
detección de fallos
estáticos y
cortocircuitos (con
múltiples entradas y
salidas).
99 Comprobación de
plausibilidad, por
ejemplo, uso de
contactos de cierre y
apertura =
comparación de
señales no
equivalentes de los
elementos de entrada.
Interfaz del sensor
Notación
En la resolución de
problemas es
posible un
cortocircuito de
hasta un grado de
DC = 99.
La DC depende de
la frecuencia de la
prueba de inicio o
bien de la prueba
cíclica.
Solo es efectivo si la
asignación del pulso
está activa.
Solo es eficaz en
relación con la
función de la
vigilancia activa del
tiempo para el
elemento de
entrada.