Inmunidad De Campo Magnético; Emisiones Conducidas; Emisiones Radiadas; Frecuencia De Potencia - GE MiCOM P40 Agile P642 Manual Tecnico

P64x
Tensión de prueba de perturbaciones
Prueba con AM
Pruebas in situ
16.11 INMUNIDAD DE CAMPO MAGNÉTICO
Cumplimiento
Prueba IEC 61000-4-8
Prueba IEC 61000-4-9
Prueba IEC 61000-4-10
16.12

EMISIONES CONDUCIDAS

Cumplimiento
Fuente de alimentación - Prueba 1
Fuente de alimentación - Prueba 2
Prueba 1 RJ45 (si procede)
Prueba 2 RJ45 (si procede)
16.13

EMISIONES RADIADAS

Cumplimiento
Prueba 1
Prueba 2
Prueba 3
16.14

FRECUENCIA DE POTENCIA

Cumplimiento
Entradas ópticas (el cumplimiento se logra con el uso del
filtro de entrada óptica)
Nota:
El cumplimiento se consigue usando el filtro de entrada óptica.
P64x-TM-ES-1.3
10 V RMS
1 kHz al 80%
27 MHz y 68 MHz
IEC 61000-4-8: 2009 Level 5
IEC 61000-4-9/10: 2001 nivel 5
100 A/m aplicados continuamente, 1000 A/m aplicados durante 3 segundos
1000 A/m aplicados en todos los planos
100 A/m aplicados en todos los planos a 100 kHz/1 MHz con una duración de
ráfaga de 2 segundos
EN 55022: 2010, IEC 60255-26:2013
0,15 - 0,5 MHz, 79 dBµV (casi pico) 66 dBµV (media)
0,5 - 30 MHz, 73 dBµV (casi pico) 60 dBµV (media)
0,15 - 0,5 MHz, 97 dBµV (casi pico) 84 dBµV (media)
0,5 - 30 MHz, 87 dBµV (casi pico) 74 dBµV (media)
EN 55022: 2010, IEC 60255-26:2013
30 – 230 MHz, 40 dBµV/m a 10 m de distancia de medición
230 – 1 GHz, 47 dBµV/m a 10 m de distancia de medición
1 – 2 GHz, 76 dBµV/m a 10 m de distancia de medición
IEC 60255-22-7:2003, IEC 60255-26:2013
300 V en modo común (clase A)
150 V en modo diferencial (clase A)
Capítulo 21 - Especificaciones técnicas
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