Historia Temporal De Las Comprobaciones De Las Ossd - SICK microScan3 Instrucciones De Uso

13.4

Historia temporal de las comprobaciones de las OSSD

8016349/2016-01-27 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
• t = Tiempo de respuesta
R
• t = Tiempo del ciclo de exploración
S
Ajuste "40 ms": t
°
Ajuste "30 ms": t
°
• t = Tiempo de la protección contra influencias
I
Modo 1 (ajuste previo): t
°
Modo 2: t = 1 ms
°
I
Modo 3: t = 2 ms
°
I
Modo 4: t = 3 ms
°
I
• n = Evaluación múltiple ajustada
Con ajuste previo y con protección vertical n = 2.
La evaluación múltiple puede modificarse para el escáner láser de seguridad o
para cualquier campo individual (2 ≤ n ≤ 16).
• t = Tiempo de procesamiento y salida
O
Dependiendo de la salida utilizada:
Pareja de OSSD 1: t
°
Tiempo del ciclo de Protección contra
exploración (t ) influencias, Modo (t
S
30 ms 1
2
3
4
40 ms 1
2
3
4
Tabla 26: Tiempo de respuesta de un escáner láser de seguridad concreto
El escáner láser de seguridad comprueba las OSSD a intervalos periódicos. Para
hacerlo, el escáner láser de seguridad pone brevemente (durante un máx. de 300 μs)
cada OSSD en estado OFF y comprueba si este canal permanece sin tensión durante
ese tiempo.
Asegúrese de que el control de la máquina no reacciona a esos impulsos de la prueba
y la máquina no se desconecta.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 77: Pruebas de desconexión
t Tiempo del ciclo de exploración
S
= 40 ms
S
= 30 ms
S
= 0 ms
I
= 10 ms
O
Salida (t
O
)
I
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
Pareja de OSSD 1
t t t
S S S
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3
DATOS TÉCNICOS
) t = Tiempo de res‐
R
puesta con evaluación
múltiple n
n × 30 ms + 10 ms
n × 31 ms + 10 ms
n × 32 ms + 10 ms
n × 33 ms + 10 ms
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
t t t
S S S
13
t
t
143