Historia Temporal De Las Comprobaciones De Las Ossd; Ossd - SICK microScan3 Core I/O AIDA Manual Del Usuario

13.5

Historia temporal de las comprobaciones de las OSSD

Para lograr una compatibilidad electromagnética superior en condiciones del entorno electromagnético difíciles, se recomienda ajustar
7)
el tiempo de filtro de entrada del control conectado (filtro On/Off) en un valor ≥ 5 ms. Debe tener en cuenta que de este modo aumenta
el tiempo de respuesta de todo el sistema en el tiempo de filtrado ajustado, como mínimo.
8025404/1DJZ/2021-10-08 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Tiempo del ciclo de Protección contra
exploración (t ) influencias (t
S
40 ms Modo 1
Modo 2
Modo 3
Modo 4
50 ms Modo 1
El escáner láser de seguridad comprueba las salidas conmutadas seguras (OSSD) a
intervalos periódicos. Para ello, el escáner láser de seguridad conmuta cada OSSD
activa brevemente (durante un máximo de 300 μs) al estado apagado y comprueba si
este canal está libre de tensión durante ese tiempo.
Asegúrese de que el control de la máquina no reacciona a esos pulsos de test y de que
la máquina no se desconecta.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 79: Pruebas de desconexión
t Tiempo de ciclo de exploración
S
• Ajuste "30 ms": t
• Ajuste "40 ms": t
• Ajuste "50 ms": t
≤ 300 µs
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 80: Duración y desfase temporal de las pruebas de desconexión en una pareja de OSSD
Salida (t
O
)
I
0 ms Par de OSSD 1
1 ms Par de OSSD 1
2 ms Par de OSSD 1
3 ms Par de OSSD 1
0 ms Par de OSSD 1
7)
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
4 × t
S
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
DATOS TÉCNICOS
) t = Tiempo de res‐
R
puesta con evaluación
múltiple n
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
n × 50 ms + 10 ms
t t t
S S S
≤ 300 µs
13
t
t
t
t
147