SICK microScan3 Core I/O AIDA Manual Del Usuario página 135

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8025404/1DJZ/2021-10-08 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Memoria de eventos en el escáner láser de seguridad
El escáner láser de seguridad almacena los datos para los eventos siguientes:
La salida de seguridad conmuta al estado OFF.
Se detecta un objeto en un campo relacionado con la seguridad.
Por cada detección de objeto en la que una salida de seguridad pasa al estado
apagado, el escáner láser de seguridad guarda los datos de 10 exploraciones. Si la
memoria interna del escáner láser de seguridad está llena, los datos de exploración de
la detección de objetos más antigua se sobrescriben para guardar una nueva detección
de objeto. La posición y la hora de la detección del objeto se conservan.
La memoria interna del escáner láser de seguridad se vacía al reiniciar.
Fuente de datos
Leer del dispositivo: Solo está disponible si hay conectado un dispositivo. Se leen
los datos almacenados en el dispositivo.
Cargar archivo: Puede abrir un archivo en el que se almacenen eventos que se
leyeron en el dispositivo en un momento anterior.
Guardar datos: Puede guardar en un archivo los eventos leídos en un dispositivo,
para su análisis posterior.
Eventos
La vista Eventos muestra un resumen gráfico de las detecciones de objetos en campos
relacionados con la seguridad que han provocado la conmutación de una salida de
seguridad al estado apagado.
Navegación: Puede seleccionar el evento cuyos datos de medición se muestran en
la parte derecha.
Resumen de eventos: se muestra la posición de cada detección de objeto regis‐
trada en relación con el escáner láser de seguridad. Cuando mantiene el puntero
del ratón sobre una posición, se muestra la evaluación múltiple ajustada. Cuando
hace clic en una posición, en la parte derecha se muestran los datos de medición
correspondientes.
Datos de medición del evento seleccionado: se muestran los datos de medición
de la detección del objeto seleccionado. Si se almacenan varias exploraciones
para la detección del objeto seleccionado, puede ver cada una de ellas haciendo
clic en los iconos situados junto a Explorar.
Tabla de eventos
La tabla de eventos muestra informaciones detalladas sobre los eventos en los que
una salida de seguridad ha conmutado al estado OFF.
En base a los datos de medición se asigna a cada evento una causa probable:
Objeto: probablemente se ha detectado un objeto en el campo de protección.
Contorno: Se ha interrumpido un campo de contorno de referencia o un campo de
reconocimiento de contorno.
Suciedad: La desconexión se activó debido a la suciedad de la cubierta de la
óptica en la zona del campo de protección.
Deslumbramiento: La desconexión se ha activado por medio de una fuente de luz
externa en el plano de exploración de la zona del campo de protección, p. ej. el
sol, un faro halógeno, una fuente de luz infrarroja, un estroboscopio.
Cerca del borde del campo o partículas en el campo: la detección de objetos
en el campo de protección se activó probablemente en el borde o a través de
partículas.
SOLUCIÓN DE FALLOS
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
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