8025404/1DJZ/2021-10-08 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Dispositivos con alcance del campo de protección máx. de 5,5 m
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 30 ms
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Dispositivos con alcance campo de protección máx. de 9,0 m
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 40 ms
Tiempo del ciclo de explora‐
ción 50 ms
Tiempo de respuesta
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Tiempo de ciclo de exploración
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Suplemento del campo de protección necesario general (RT = rango de tolerancia del escáner
láser de seguridad)
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 4,0 m
Dispositivos con alcance del
campo de protección máx.
de 5,5 m
Dispositivos con alcance
campo de protección máx.
de 9,0 m
Suplemento Z
para errores
R
de medición por reflexión
Desviación respecto a la pla‐
nicidad ideal del campo de
exploración a 5,5 m
2)
Desviación respecto a la pla‐
nicidad ideal del campo de
exploración a 9,0 m
3)
microScan3 Core I/O AIDA
0,39°
0,51°
0,39°
0,125°
0,1°
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 145
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 145
≥ 90 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 145
30 ms o 40 ms (ajustable)
30 ms o 40 ms (ajustable)
40 ms o 50 ms (ajustable)
65 mm
65 mm
100 mm
350 mm
≤ ± 100 mm
≤ ± 100 mm
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
13
DATOS TÉCNICOS
141