Diagnóstico Con Safety Designer; Histórico De Eventos; Registrador De Datos - SICK microScan3 Core I/O AIDA Manual Del Usuario

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SOLUCIÓN DE FALLOS
Tipo de error Descripción breve
F3 Cortocircuito de OSSD
a 0 V
F4 Cortocircuito entre 2
OSSD
F5 Cortocircuito entre
la salida conmutada
segura (OSSD) y la
entrada universal o I/O
universal.
F9 Error general de OSSD
T1 Error de temperatura
W1 Las advertencias supe‐
ran el tiempo de tole‐
rancia
11.4 Diagnóstico con Safety Designer
La conexión USB solo puede utilizarse temporalmente para la configuración y el diagnóstico.
6)
132 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O AIDA
Causa
En una OSSD se ha producido un
cortocircuito a 0 V.
Existe un cortocircuito entre 2 salida
conmutada segura (OSSD).
Existe un cortocircuito entre una
salida conmutada segura (OSSD) y
una entrada universal o entre una
OSSD y una IO universal.
Al menos una OSSD muestra un
comportamiento inesperado.
Se ha rebasado por exceso o por
defecto el margen de temperatura
admisible del escáner láser de segu‐
ridad durante el funcionamiento.
La combinación de varias adver‐
tencias ha producido un error. El
tiempo de tolerancia de 1 s se ha
superado por la existencia de varias
advertencias.
En la ventana de dispositivos están disponibles las siguientes herramientas de diag‐
nóstico:
•

Registrador de datos

• Histórico de eventos
• Historial de avisos
Las siguientes interfaces están indicadas para el diagnóstico:
• USB 2.0 Mini B (conector hembra)
Eliminación
b Compruebe el cableado.
b Compruebe el cableado.
b Compruebe el cableado.
b Compruebe el cableado de
OSSD.
b Compruebe si el escáner láser
de seguridad está funcionando
con las condiciones ambientales
admisibles.
b Compruebe con Safety Designer
qué advertencias existen.
6)
8025404/1DJZ/2021-10-08 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso