SICK S300 Instrucciones De Servicio página 133

Escáner láser de seguridad
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Instrucciones de servicio
S300
8010951/YY96/2016-02-17
Sujeto a cambio sin previo aviso
Datos técnicos
OSSDs
Pareja de salidas de conmutación del
dispositivo
Estado seguro en caso de error
Tensión de corte nivel lógico alto (HIGH) a
250 mA
Tensión de corte nivel lógico bajo (LOW)
S300 Medium Range
Tensión de corte nivel lógico bajo (LOW)
S300 Long Range
Fuente de corriente conmutada
34)
Corriente de fuga
Inductancia de carga
Capacidad de carga
Secuencia de maniobra (sin conmutación)
Resistividad admisible
Anchura de pulso de test
Frecuencia de test
Tiempo de conmutación de las OSSDs de
rojo a verde
Asincronía al conectar las OSSDs entre
OSSD2 y OSSD1
32)
Válido para tensiones entre U
33)
Durante un breve intervalo ( 100 ms) se admiten corrientes de carga hasta 500 mA.
34)
En caso de error (interrupción del cable de 0 V) fluye como máximo la corriente de fuga en el cable OSSD. El
elemento de control conectado en serie debe detectar este estado como nivel lógico bajo (LOW). Un FPLC
(controlador lógico programable de seguridad) debe detectar este estado.
35)
Limitar a este valor la resistividad de cada hilo con respecto al elemento conectado en serie, con el fin de que
se detecte con seguridad una derivación entre las salidas. (Observe además la EN 60 204Z1.)
36)
Las salidas se prueban siempre cíclicamente en estado activo (breve conmutación nivel lógico bajo (LOW)). Al
seleccionar los elementos de control conectados en serie hay que asegurarse de que los pulsos de test no
causen una desconexión.
© SICK AG • Industrial Safety Systems • Alemania • Reservados todos los derechos
2 semiconductores PNP, a prueba de
cortocircuitos
derivación
Al menos una OSSD está en la posición
DESCONECTADO.
U
0 V
0 V
33)
6 mA
35)
36)
y 0 V.
v
Mínimo
Típico
32)
, con supervisión de
– 2,7 V
V
0 V
0 V
230 µs
120 ms
120 ms
Capítulo 12
Máximo
U
V
3,5 V
2,0 V
0,25 A
250 µA
2,2 H
2,2 µF a
50 n
5 ¹/
s
2,5 n
300 µs
2 ms
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