Technische Daten - X-Rite PANTONE i1 PRO 3 PLUS Manual De Uso

Technische Daten

Spektral­
technologie:
Spektralbereich:
Physikalisches Messintervall:
Optische Auflösung:
Spektrale Auflösung:
Messfrequenz im Scanmodus:
Optik: Messgeometrie:
Messblende:
Messfleckgröße :
Lichtquelle:
Reflexions­
messung:
Messbedingungen:
OBC:
Kalibrierung:
Messunterlage:
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i1Pro 3 PLUS i1 -Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem
®
128-Pixel-Diodenraster) mit integriertem Wellenlängentest
380 - 730 nm
3,5 nm
10 nm
380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
400 Messungen pro Sekunden
45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2017
8 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
12 mm
LED-Beleuchtung i1Pro3 (mit UV)
spektrale Reflexion (dimensionslos)
M0: Mit UV-Anteil - ISO 13655:2017 M1: D50 - ISO 13655:2017
M2: ISO 13655:2017 M3: Polfilter - ISO 13655:2017
Korrektur für optische Aufheller (OBC) mit Software i1Profiler
Manuell auf externer Weißkachel
weiß, ISO 13655:2017 bei Verwendung der mitgelieferten Messunterlage
Min. Messfeldgröße im 14 x 14 mm
Einzelmessmodus (Breite x Höhe):
Min. Messfeldgröße im Scanmodus 16 x 16 mm mit i1iO
(Breite x Höhe): 16 x 16 mm mit Sensorlineal
20 x 16 mm ohne Sensorlineal
20 x 16 mm mit Sensorlineal im M3-Modus
22 x 16 mm ohne Sensorlineal im M3-Modus
Max. Scanlänge: 515 mm
Messgeräteübereinstimmungt: 0,4 ∆E00* im Mittel, max. 1,0 ∆E00*
(Abweichung vom X-Rite Fertigungsstandard bei 23 °C im
Einzelmessmodus bei 12 BCRA-Kacheln (D50/2°))
Kurzzeitwiederholgenauigkeit: 0,1 ∆E94* auf weiß (D50/2°, Mittel aus 10 Messungen auf weiß alle 3 s )
Emissions­
messung:
Spektrale Radianz [mW/nm/m
Messgeräteübereinstimmungt: 0,2 - 5000 cd/m
Kurzzeitwiederholgenauigkeit: typ. x,y ±0,002 (5000 K, 80 cd/m
Umgebungs­ i1Pro3 PLUS: Spektrale Irradianz [mW/nm/m
lichtmessung: Messkopf für diffuses Licht mit Kosinuskorrektur
Schnittstelle:
USB 1.1
DE
2 2
/sr], Luminanz [cd/m ]
2
auf einem handelsüblichen LCD-Monitor
2
)
2
], Luminanz [Lux]
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