SICK miniTwin4 Instrucciones De Uso página 91

8012627/1IZ4/2024-05-07 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Nivel de integridad de seguridad
(IEC 61508)
7)
Nivel de integridad de seguridad
(IEC 62061) 7)
PFHd (probabilidad media de un potencial riesgo por fallo a la hora)
Sistema individual
Sistemas en cascada
T (duración de uso)
M
Estado seguro en caso de fallo
Tiempo de conexión tras aplicar la
tensión de alimentación
Longitud de onda
Salidas conmutadas seguras (OSSD) Semiconductor PNP, a prueba de cortocircuitos
Tensión de corte 10) 11) HIGH (activo,
U )
eff
Tensión de corte LOW (inactiva)
Intensidad de conmutación
Corriente de fuga, sistema indivi‐
dual
12)
Corriente de fuga, sistema en cas‐
cada
12)
Capacidad de carga
Secuencia de conmutación
Inductancia de carga 13)
Datos de impulso de prueba
Duración de impulso de prueba
Velocidad de impulso de prueba
Resistencia de línea admisible
Consumo de corriente
Entrada multifunción
Tensión de entrada 10) HIGH (inac‐
tiva)
Corriente de entrada HIGH
Tensión de entrada LOW (activa)
10)
Corriente de entrada LOW
En caso de uso como entrada EDM
Tiempo de vuelta al reposo admisible
de contactor
Tiempo de reacción admisible de
contactor
En caso de uso como entrada de aparato de mando (tecla de restablecimiento)
Tiempo de accionamiento del apa‐
rato de mando
Mínimo
SIL 3
SIL 3
4,3 x 10 –9
13 x 10
–9
20 años (ISO 13849-1)
Como mínimo una salida conmutada segura (OSSD) se
encuentra en estado OFF.
supervisión de circuitos cruzados
U - 2,2 V
v
0 V
0 mA
Dependiendo de la inductancia de carga
14)
120 µs
3 s -1
11 V
6 mA
-3 V
-2,5 mA
200 ms
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | miniTwin4
DATOS TÉCNICOS
Típico Máximo
3 s
850 nm
9)
24 V U
v
0 V 2 V
300 mA
0,25 mA
0,5 mA
1 µF
2,2 H
150 µs 300µs
5 s -1 10 s -1
1,29 Ω
3 A (Host/Guest/
Guest) 15)
24 V 30 V
15 mA 30 mA
0 V 5 V
0 mA 0,5 mA
300 ms
300 ms
13
, con
91