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La longevidad del generador de impulsos puede aumentar al disminuir cualquiera de los siguientes aspectos:
•
La frecuencia de estimulación
•
La(s) amplitud(es) del impulso de estimulación
•
La(s) anchura(s) del impulso de estimulación
•
El porcentaje de sucesos estimulados respecto a los detectados
•
La frecuencia con la que se producen cargas
La longevidad también se ve influida en las siguientes circunstancias:
•
El descenso de la impedancia de estimulación puede reducir la longevidad.
•
En el caso de los dispositivos de longevidad prolongada (LP), cuando se programa el sensor respiratorio
o VM en Off durante toda la vida del dispositivo, la longevidad aumenta 4,5 meses aproximadamente.
•
En el caso de dispositivos MINI, cuando se programa el sensor respiratorio o VM en Off durante toda la
vida del dispositivo, la longevidad aumenta 2 meses aproximadamente.
•
Cuando Monitorización activada por paciente se programa en On durante 60 días, la longevidad se
reduce 5 días aproximadamente.
•
Una hora de uso adicional de ZIP Wandless Telemetry reduce la longevidad en 9 días aproximadamente.
•
Cinco interrogaciones con el comunicador LATITUDE iniciadas por el paciente cada semana durante un
año reducen la longevidad 39 días aproximadamente.
•
En el caso de los dispositivos de longevidad prolongada (LP), una descarga adicional a la energía
máxima reduce la longevidad aproximadamente 21 días.
•
En el caso de dispositivos MINI, una descarga adicional a la energía máxima reduce la longevidad
aproximadamente 23 días.
•
Seis horas en el Modo de protección IRM reducen la longevidad en 4 días aproximadamente.
•
Si se mantiene el modo Almacenamiento 6 meses más antes del implante, la longevidad se reducirá 54
días. Se suponen los siguientes parámetros implantados: 60 min
-1
de LIF, 2,5 V de Amplitud de impulso
59
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