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4.6.2
上位コントローラに対する要件
8029123/2024/01/15 | SICK
記載内容につきましては予告なしに変更する場合がございますのであらかじめご了承ください。
機能 2: 基準対象物または基準面がの不在
B
図 12: 方向
センサ
1
ビーム
2
センサ前面/基準面の距離
A
基準面/段差の距離
B
表 5: 検出経路
A
センサ前面/基準面の距離
B
基準面/段差の距離
より高い機能安全性が要求されるシステムに機器を組み込むために、診断オプショ
ンを使用することができます:
•
上位コントローラまたはテスト装置は、 応用分野に関連する機能安全規格に従
って開発されていなければならず、この場合は、アプリケーションに十分な安
全性レベルを満たしている必要があります。少なくとも IEC 61508 準拠の
SIL1、ISO 13849-1 準拠の PL c (Cat 2) の要件を満たしていなければなりま
せん。
•
上位コントローラはエラー検出、 およびアプリケーション要件に応じてテスト
入力を定期的に切り替えるテスト装置を提供しなければなりません。テスト
速度は、予想される平均需要率の少なくとも 100 倍でなければなりません。
テストに失敗した場合、上位コントローラはエラーを認識し、アプリケーショ
ンの安全な状態を維持するか、 または安全な状態に移行させなければなりませ
ん。
•
上位コントローラは、周波数が変調された信号
ページ
190) を有効な入力信号として認識しなければなりません。
•
上位コントローラは信号の周波数を監視する必要があります。周波数偏差が
2%以上の場合、上位コントローラはエラーを認識し、アプリケーションの安
全な状態を維持するか、または安全な状態に移行させなければなりません。
•
センサの出力 Q のレベルが恒久的に LOW である場合、 上位コントローラはア
プリケーションの安全な状態を維持するか、 または安全な状態に移行させなけ
ればなりません。
1
2
α
150 ... 2,000 mm
> 85 mm (最小段差高さ: B * sin α
参照 "診断カバレッジの対策", ページ
(参照 "データシート",
取扱説明書
179。
181
取 扱 説 明 書 | WTT12-S
ja
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