La longevidad del generador de impulsos puede aumentar al disminuir cualquiera de los siguientes aspectos:
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La frecuencia de estimulación
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La(s) amplitud(es) del impulso de estimulación
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La(s) anchura(s) del impulso de estimulación
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El porcentaje de sucesos estimulados respecto a los detectados
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La frecuencia con la que se producen cargas
La longevidad también se ve influida en las siguientes circunstancias:
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El descenso de la impedancia de estimulación puede reducir la longevidad.
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Cuando se programa el sensor respiratorio o VM en Off durante toda la vida del dispositivo, la longevidad
aumenta 2 meses aproximadamente.
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Cuando Monitorización activada por paciente se programa en On durante 60 días, la longevidad se
reduce 5 días aproximadamente.
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Una hora de uso de ZIP Wandless Telemetry adicional reduce la longevidad en 7 días aproximadamente.
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Cinco interrogaciones con el comunicador LATITUDE iniciadas por el paciente cada semana durante un
año reducen la longevidad 29 días aproximadamente.
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Una descarga adicional a la energía máxima reduce la longevidad 16 días aproximadamente.
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Seis horas en el Modo de protección IRM reducen la longevidad en 3 días aproximadamente.
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Si se mantiene el modo Almacenamiento 6 meses más antes del implante, la longevidad se reducirá 39
días. Se suponen los siguientes parámetros de implantación: 70 min
estimulación auricular; 100 % de estimulación biventricular; 0,4 ms de Ancho impulso de estimulación;
500 Ω de Impedancia de estimulación; 2,5 V de Amplitud del impulso de estimulación (AD, VD); 3,0 V de
Amplitud del impulso de estimulación (VI).
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de LIF; modo DDDR; 15 % de
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