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10. Pulse [
] o [
] y gire el dial VALUE/TIME para
seleccionar "PRE-F" (Predeslizador) para el ajuste
"Fx".
11. Baje completamente el deslizador MIC/LINE (pad)
para cortar el sonido directo, y gire el dial
VALUE/TIME para aumentar o reducir el ajuste de
nivel de "Fx" que aparece en la pantalla, con lo que
ajustará el nivel de volumen de todos los pads.
(El valor normal para este ajuste es 100.)
Otra posibilidad es volver a muestrear los sonidos mientras
aplica los efectos, y a continuación tocar estos sonidos.
Al añadir efectos a muestras, igual que al añadir efectos a
MEMO
canciones, es posible cambiar los efectos con los mandos de la
sección Realtime Effects (p. 128). También es posible controlar
los efectos con el D Beam Controller (p. 129) o con el
Modulador por pasos (p. 131).
Tocar muestras en los pads
Utilizar el D Beam Controller
para tocar muestras
Con el D Beam Controller es posible tocar muestras
especificadas simplemente moviendo la mano en el aire (p.
30). Si se encuentra en las condiciones en que pueden tocarse
muestras, podrá disparar las muestras especificadas en cada
banco de pads pulsando D Beam Controller [PAD TRIG] y
moviendo la mano sobre el sensor. En este momento, el haz
puede utilizarse para hacer sonar hasta dos muestras. Para
determinar la muestra que sonará de las dos, siga los pasos
que se indican a continuación.
•
La altura (distancia desde el sensor)—alta o baja—a la
que mueve la mano
•
El campo del sensor—izquierdo o derecho—en el que
mueve la mano (p. 30)
Ambas funciones pueden cambiarse en la pantalla de
configuración del D Beam Controller.
(Para seleccionar uno de estos métodos, mantenga pulsado
[SHIFT] y pulse [PAD TRIG]; a continuación pulse [
[
] hasta llegar a "Trigger Type" y por último gire el dial
VALUE/TIME para seleccionar "HEIGHT" o "L
En cualquier caso, la manera en que las muestras empezarán a
MEMO
sonar y dejarán de hacerlo, o si las muestras serán de bucle o no,
depende de los ajustes de Pad Play (p. 36) y Loop (p. 36).
Seleccionar los pads que se
tocarán en cada banco
Al utilizar la altura para determinar la muestra que sonará,
el sonido que se oye al acercar (bajar) la mano al sensor del D
Beam Controller se conoce como muestra inferior, y el
sonido que se oye al alejar (subir) la mano del sensor del D
Beam Controller se conoce como muestra superior.
Proceso para determinar las muestras que se tocarán
Mantenga pulsado [PAD TRIG] y pulse dos pads, uno
después del otro. El pad que pulse en primer lugar se
seleccionará como muestra superior, y el que pulse en
segundo lugar se seleccionará como muestra inferior.
También puede confirmar y cambiar Este ajuste en la pantalla
MEMO
"BeamAsgn Upper(L)/Lower(R)" (que se menciona más adelante).
1. Pulse [SAMPLE/BANK].
2. Seleccione "Set Bank Param?" con [
3. Pulse [ENTER/YES] y pulse [
Al distinguir las dos muestras al mover la mano sobre el campo
MEMO
izquierdo o derecho del sensor, en lugar de hacerlo por la altura,
las muestras se seleccionan de la misma manera (la muestra del
pad pulsado en primer lugar es la asignada al campo izquierdo
del D Beam). La selección de muestras de cada banco de pads se
guarda en el disco al expulsarlo.
1
2
3
4
5
6
] o
7
R".)
8
9
10
11
12
13
] o [
].
] tres veces.
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