Rockwell Automation Allen-Bradley SafeZone 3 Manual Del Usuario página 170

Escáner láser de seguridad con cip safety a través de ethernet/ip
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Capítulo 11
Solución de problemas
170
Origen de datos
Leer desde dispositivo: solo disponible cuando hay un dispositivo
conectado. Se leen los datos almacenados en el dispositivo.
Cargar archivo: puede abrir un archivo que guarda eventos leídos
previamente desde un dispositivo.
Guardar datos: puede guardar los eventos leídos por un dispositivo en un
archivo para su posterior análisis.
Eventos
La vista Events muestra una descripción general gráfica de las interrupciones
de los campos de protección, contornos de referencia e identificadores de
contingencia, que han provocado que una salida de seguridad cambie al estado
OFF.
Navegación: puede seleccionar el evento cuyos datos de medición se
muestran a la derecha de la pantalla.
Descripción general de eventos: se muestra la posición de cada
interrupción de campo registrada relativa al escáner láser de seguridad.
Si mantiene el puntero del ratón en una posición, se muestra el muestreo
múltiple establecido. Haga clic en una posición para ver los datos de
medición correspondientes en el área de la derecha.
Datos de medición para el evento seleccionado: se muestran los datos de
medición para la interrupción del campo seleccionada. Si se guardan varios
escaneos para la interrupción del campo seleccionada, puede ver cada uno de
ellos de forma individual haciendo clic en los iconos junto a Scan.
Tabla de eventos
La tabla de eventos muestra información detallada acerca de los eventos que
han dado lugar a un conmutación de salida de seguridad al estado OFF.
Se asigna una causa probable a cada evento:
Objeto: el campo de protección probablemente fue interrumpido por un
objeto.
Contorno: se interrumpió un campo de contorno de referencia o un campo de
identificación de contorno.
Contaminación: la suspensión se desencadenó por la contaminación de la
cubierta de componentes ópticos en el área del campo de protección.
Deslumbramiento: la suspensión se desencadenó por una fuente de luz
externa en el plano de exploración en el área del campo de protección, por
ejemplo, sol, luz halógena, fuente de luz infrarroja, estroboscopio.
Cerca del borde del campo o partículas en el campo: el campo de protección
probablemente fue interrumpido en el borde o por partículas.
Muestreo múltiple
La vista Multiple sampling muestra la frecuencia con la que se han producido
interrupciones de campo con duraciones variables. Se tienen en cuenta todas
las interrupciones de los campos de protección, los campos de contorno de
referencia y los campos de identificación de contorno. Por lo tanto, el número
de entradas en esta vista puede diferir de las otras.
La duración se expresa como el número de exploraciones consecutivas en las
que se interrumpe un campo. Para cada duración, el diagrama muestra el
número correspondiente de interrupciones de campo.
Publicación de Rockwell Automation 442L-UM008A-ES-P - Mayo 2021

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Este manual también es adecuado para:

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